Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9231458 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL prober ist ein hochmodernes Automatisierungsgerät zur Sondierung, Prüfung und Inspektion von Halbleiterwafern in einer Produktionsumgebung. Diese Ausrüstung wurde entwickelt, um den Durchsatz zu maximieren und sicherzustellen, dass sie eine der effizientesten und kostengünstigsten Lösungen auf dem Markt bleibt. TEL P8XL prober ist mit einem leistungsstarken High-Speed-Scankopf mit fortschrittlicher Visionstechnologie und einer Sensor-Suite ausgestattet, um hochauflösende Bilder von Zielteilen zu ermöglichen. Diese fortschrittliche Bildgebungstechnologie garantiert präzise Positionierung und genaues Scannen, um die zuverlässigsten Ergebnisse zu gewährleisten. Um den Durchsatz zu maximieren und die Rüstzeit zu reduzieren, verfügt TOKYO ELECTRON P8-XL prober über ein automatisiertes Wafer-Handling-System. Diese automatisierte Einheit ermöglicht ein effizientes, einziges Wafer-Handling, das an spezifische Bearbeitungs- und Prüfanforderungen angepasst werden kann. TOKYO ELECTRON P 8 XL Prober umfasst eine Vielzahl von Prober-Komponenten, darunter eine Prober-Bühne, Sondenkartenbaugruppen, ein digitales Hochleistungsmikroskop und eine automatische Null- und Überwachungsmaschine. Die Proberstufe unterstützt Wafergrößen von bis zu 200 mm Durchmesser mit einer einstellbaren Genauigkeit von ± 12 µm. Zusätzlich kann die Proberstufe durch die Bearbeitungsparameter für unterschiedliche Einstellungen leicht eingestellt werden. Die Sondenkartenbaugruppen des Probers sind sowohl für diskrete Tests als auch für Chargen- und kontinuierliche Tests ausgelegt. Das digitale Hochleistungsmikroskop ermöglicht es, sowohl analoge als auch digitale Messungen direkt vom im Test befindlichen Chip oder Board zu nehmen. Das automatische Null- und Überwachungswerkzeug gewährleistet zudem, dass alle Testergebnisse mit höchster Genauigkeit gemessen werden. Darüber hinaus ist TEL P8-XL prober mit einer umfassenden Reihe von Software-Tools ausgestattet, um die Systeme zu konfigurieren, Daten zu analysieren und Proberkomponenten zu steuern. Diese Software ermöglicht eine einfache Einrichtung und Bedienung, einschließlich Echtzeit-Überwachung von Sondendaten. Zusammenfassend ist TEL/TOKYO ELECTRON P8-XL prober eine fortschrittliche Automatisierungslösung zur Prüfung und Inspektion von Halbleiterscheiben. Diese Anlage bietet eine präzise Positionierung, eine komplette Wafer-Handling-Automatisierung und eine umfassende Palette von Software-Tools, die effiziente und kostengünstige Produktionstests ermöglichen.