Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9255227 zu verkaufen
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TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL ist ein Mehrzweck-Halbleiterprober, der entwickelt wurde, um genaue und wiederholbare Messergebnisse zu erzielen. Der Prober verfügt über eine hochpräzise, schnelle Scanfunktion und ist in der Lage, eine Vielzahl von Substratbelägen zu handhaben und kann auf Geräten mit Funktionen bis zu 5 µm verwendet werden. TEL P8XL verfügt über einen hochzuverlässigen und präzisen Halbleiterprober, der für effektive Messungen und Genauigkeitsprüfungen ausgelegt ist. Es verwendet eine zweiachsige Scanstufe, die eine schnelle Sondierung von Geräten mit unterschiedlichen Größen, Höhen und Mustern ermöglicht. Die große Scangröße von 150 mm x 200mm eignet sich auch zur großflächigen Gerätekennzeichnung. TOKYO ELECTRON P8-XL ist mit einem Autofokus-System ausgestattet, um sicherzustellen, dass die Messsonde immer korrekt auf den Testsubstraten positioniert ist. Es verfügt über eine automatische Wafer-Ausrichtungsfunktion, mit der TOKYO ELECTRON P-8 XL die Substrate schnell und genau detektieren kann. Die optionale Wafer-Drehhalterung ermöglicht es P8XL, Substrate automatisch zu drehen und gleichzeitig Messungen durchzuführen. Darüber hinaus verfügt TEL P-8XL über ein integriertes Schwingungsdämpfungssystem, das den Einfluss externer Schwingungen minimiert und Messfehler drastisch reduziert. P8-XL ist auch mit einem fortgeschrittenen z-Achsen-Controller ausgestattet, der Entfernungen bis zu 5 µm messen kann. Dieser Regler dient dazu, den Spalt zwischen der Sondenspitze und der Oberfläche des Substrats genau zu steuern, um die Integrität der Messergebnisse zu gewährleisten. TEL P 8 XL ist ein leistungsstarker und kostengünstiger Halbleiterprober, mit dem Benutzer präzise und wiederholt Präzisionsmessungen in einer Vielzahl von Substratformaten durchführen können. Es ist mit den notwendigen Werkzeugen ausgestattet, um ein präzises, zuverlässiges und genaues wiederholbares Messergebnis zu gewährleisten. Sein Leistungsspektrum, gepaart mit seinem benutzerfreundlichen Design machen es zur perfekten Wahl für jeden Halbleiterprober und Charakterisierungsanforderungen.
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