Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9281948 zu verkaufen

TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL
Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
P-8XL
ID: 9281948
Wafergröße: 8"
Prober, 8".
TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL Prober ist ein speziell entwickeltes elektrisches Kontaktprüfgerät, das zur Durchführung von Präzisionsmessungen an elektrischen Komponenten und Schaltungen entwickelt wurde. Mit einer Vielzahl von Technologien eignet sich dieses System gut für Wafer-Sondierungsanwendungen wie Wafertests, IC-Zuverlässigkeitstests, IC-Ausbeute-Tests und TFT-Tests (Thin Film Transistor). TEL P8XL Prober verfügt über eine 6-Achsen-hochauflösende Bewegungssteuerung, die Bewegungen entlang der X-, Y-, Z-Achsen sowie Neigungs-, Rollen- und Gierrotationen ermöglicht. Jede Achse ist in der Lage, bis zu 1 mm/s zu bewegen, was sowohl Genauigkeit als auch Geschwindigkeit berücksichtigt. Außerdem verfügt die Maschine über einen automatisierten Prüfkopf, der mit bis zu 50 Pins gleichzeitig in Kontakt kommt, um mehrere Messungen gleichzeitig mit hoher Geschwindigkeit durchzuführen. TOKYO ELECTRON P8-XL Prober verfügt über ein hochmodernes Elektrowerkzeug, das eine zuverlässige Prüfung ermöglicht. Die Hochfrequenz des Geräts ermöglicht Breitbandtests von bis zu 8 MHz und das geräuscharme Design ermöglicht erweiterte Messungen der Signalintegrität. Es gibt auch eine integrierte Kalibrierfunktion, die genaue Ergebnisse gewährleistet. Das prober-Modell ist zudem mit einer sehr vielseitigen Software-Suite ausgestattet. Die intuitive Benutzeroberfläche ermöglicht es Anwendern, die Geräte schnell und einfach für selbst komplexeste Testszenarien zu konfigurieren. Die Software enthält auch umfassende Debugging-Tools zur Unterstützung bei der schnellen Problemlösung. Schließlich hat P8-XL Prober ein schlankes, kompaktes Design, das in praktisch jede Laborumgebung passt. Dieses System erfordert eine minimale Wartung und sorgt für einen langfristig zuverlässigen Betrieb. Mit seinen überlegenen Messfähigkeiten ist TOKYO ELECTRON P-8 XL Prober eine zuverlässige und effiziente Lösung für Halbleitertests und -entwicklungen.
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