Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9379919 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL ist ein Prober, der eine breite Palette von erweiterten Funktionen für die anspruchsvollsten Sondierungsanwendungen bietet. Es wurde entwickelt, um einen höheren Durchsatz und eine höhere Genauigkeit als herkömmliche Sondierungssysteme bereitzustellen. TEL P8XL kombiniert Hochgeschwindigkeits-Scanning mit präziser Platzierung von Sonden und Unterstützung für eine Vielzahl von Sondentechniken. Seine Flexibilität und Zuverlässigkeit machen es auch ideal für Wafer-Level-Tests. TOKYO ELECTRON P8-XL verfügt über eine Sondenkartenbauausrüstung mit einem mehrstufigen Armpositioniersystem und einer hochsteifen Stufe. Dadurch wird eine präzise Positionierung der Sonden gewährleistet und die Gefahr einer Beschädigung der Geräte bei der Sondierung verringert. Es enthält auch eine bis zu 8-Sonden-Kopfeinheit, die einen hochgenauen Betrieb auch bei hohen Abtastgeschwindigkeiten ermöglicht. Der Prober ist mit einer automatischen, berührungslosen, pneumatischen Tastkopfschutzmaschine zum Schutz der Sonden vor möglichen Beschädigungen ausgestattet. Seine fortschrittliche Software bietet eine Vielzahl von Sondierungsfunktionen für die schwierigsten Herausforderungen. Es ist mit fortschrittlichen PC-Steuerungsanwendungen ausgestattet, mit denen Sie das Sondierungs-Setup schnell und einfach ändern können. Dies beinhaltet die Möglichkeit, das Prüfmuster anzupassen und die Prüfkarten und -pakete zu ändern. Das umfassende Fehlerbericht-Tool unterstützt bei der Fehlerbehebung bei Problemen, die während der Prüfung auftreten. TEL/TOKYO ELECTRON P 8 XL ist auf hohe Produktivität und Durchsatz ausgelegt. Seine erweiterten Datenerfassungs- und Analysefunktionen ermöglichen eine schnelle Analyse großer Datensätze. Es unterstützt auch eine Vielzahl von Datenformaten wie Touchstone, OpenAccess, FITS und VCD. Seine Datenerfassungsrate und Wiederholbarkeit gehören zu den höchsten seiner Klasse. TEL/TOKYO ELECTRON P8XL ist ein fortschrittliches Prober-Asset, das eine breite Palette von Fähigkeiten für die anspruchsvollsten Testanwendungen bietet. Seine präzise Platzierung von Sonden, Hochgeschwindigkeits-Scanning und umfassende Software machen es zu einer zuverlässigen und effizienten Lösung für Wafer-Level-Tests. Seine erweiterten Datenerfassungs- und Analysefunktionen ermöglichen eine schnelle Analyse großer Datensätze.