Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9379922 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL ist ein leistungsstarker, computergesteuerter Prober, der speziell für Halbleitergerätetests in einer Vielzahl von Umgebungen entwickelt wurde. Dieses Gerät bietet überlegene Sondierungsleistung und Genauigkeit mit Vielseitigkeit und Skalierbarkeit, um den Ertrag zu maximieren und die Produktivität zu steigern. TEL P8XL verwendet ein präzises, hochauflösendes Servo Positioning System (SPS), um eine schnelle und genaue Sondierung kleiner Geräte zu ermöglichen. Das SPS ist in der Lage, bis zu 0,1 µm Genauigkeit für wiederholbare Sonden bereitzustellen, wodurch höhere Ausbeuten mit weniger falsch-positiven Sondenergebnissen erzielt werden. Dieses Gerät bietet zudem ein thermisch stabiles Design für präzise und zuverlässige Sondenendpunktmessungen. Der Prober enthält auch eine Luftabschirmungsmaschine, die dazu beiträgt, saubere Luft um den Probenkopf herum aufrechtzuerhalten, um das Risiko einer Kontamination durch luftgetragene Partikel zu minimieren. Das fortschrittliche optikgesteuerte Bildverarbeitungswerkzeug ermöglicht eine verbesserte Messgenauigkeit, unabhängig vom zu prüfenden Gerät. Es verwendet Bilderkennung für die genaue Ausrichtung von mehreren Arten von Geräten mit Auflösungen bis zu 2 μ m. Die integrierte optische Komponente kann erweiterte Mehrpunktmessungen ohne zusätzliche Hardware durchführen. TOKYO ELECTRON P8-XL unterstützt eine Vielzahl von Geräten und Pakettypen, einschließlich Standard-BGA, Flip-Chip, blanke Form, GQFP, QFP, QFN und andere Mikroelektronik-Pakete. Es ist auch kompatibel mit einer Reihe von Kantenschützern und speziellen externen Stiften und Adaptern für die hochdichte Sondierung. Dieser Prober bietet auch erweiterte programmierbare Optionen für verschiedene Gerätesondenanwendungen, einschließlich DC, IV und Zeitdomänentests. TEL/TOKYO ELECTRON P8-XL bietet eine überlegene Testleistung für eine Vielzahl von Gerätetypen mit genauen und wiederholbaren Ergebnissen. Dieses Modell bietet eine stabile Plattform zur Erkennung von Defekten und Messgeräteeigenschaften und ist darauf ausgelegt, falsch-positive Ergebnisse zu reduzieren, die Erträge zu erhöhen und die Gesamtleistung der Gerätetests zu verbessern.