Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON PR200Z #9146543 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON PR200Z prober ist eine vollautomatische, hochpräzise Wafer-Sondierungsausrüstung, die in der Lage ist, eine Vielzahl von Halbleitern und integrierten Geräten zu testen. Das System hat eine 25 µm xy lineare Stufe, die eine automatische minimale Abtastkraftsteuerung und Kontakteinstellung erreicht. Es ist in der Lage, eine Vielzahl von Halbleiterbauelementen zu analysieren und zu testen, darunter DRAMs, SRAMs, Flash-Speicher, Leistungsbauelemente, analoge und digitale Geräte. TEL PR200Z Prober ist mit einer effizienten und zuverlässigen automatischen Lade-/Entladeeinheit (A/U) ausgestattet, die eine automatische Versorgung des Prüfkörpers mit Prüfwafern ermöglicht. Diese Maschine verfügt über eine integrierte X-Y-Bewegungssteuerung und einen effizienten Einsteckprozess. Der Prober kann mit Wafern bis 200 mm Durchmesser beladen werden, was ihn zu einer idealen Wahl für die Prüfung großer Wafer macht. Die Sonde ist für die Verwendung in einer Reinraumumgebung ausgelegt, so dass nur reinraumspezifische Reinigungs- und Sicherheitsprotokolle eingehalten werden müssen, um den ordnungsgemäßen Betrieb des Prüfkörpers zu gewährleisten. Darüber hinaus wird TOKYO ELECTRON PR200Z prober mit fortschrittlichen Technologien wie Automatic Reticle Change (ARC) und Dual-Axis Plate Correction (DAPC) gebaut. Mit diesen Technologien kann der Prober seine hohe Genauigkeit von 3 μ m oder weniger halten. Dank des eng integrierten automatischen Lade-/Entlade-Tools (A/U) von PR200Z Prober ist es in der Lage, Wafer automatisch zu platzieren, Tests durchzuführen und Daten zu sammeln. Das Gerät ist mit einer hochauflösenden Kamera zur Messung und Analyse der Abmessungen der Geräte auf dem Wafersubstrat ausgestattet. Darüber hinaus steht ein genaues Ausrichtungsmodell zur Verfügung, um die genaue Position des Wafersubstrats auf dem Prober zu bestimmen. Dieser Prober bietet eine robuste Softwareausrüstung für automatisierte Tests und Datenanalysen. Es bietet auch eine große Auswahl an benutzerdefinierten Programmen, mit denen Benutzer ihre eigenen Test- und Auswertungsmethoden anpassen können. Diese programmierbaren Parameter umfassen die Konfiguration der Prüfprüfung, die Verzögerungszeit, die Erzwingungskraft und die Anzahl der Messungen. TEL/TOKYO ELECTRON PR200Z prober bietet robuste technische Möglichkeiten zur hochpräzisen Prüfung von Halbleiterbauelementen. Die Kombination aus automatisiertem Ladesystem, hochauflösender Kamera und präziser Bewegungssteuerung ermöglicht es TEL PR200Z, eine Vielzahl von Geräten genau und konsequent zu testen. Mit seinen programmierbaren Funktionen und automatisierten Funktionen ist dieser Prober eine ideale Wahl für die Forschung und Entwicklung von Halbleiterbauelementen.