Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON PR200Z #9157625 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON PR200Z ist ein Prober, der verwendet wird, um Messungen auf Halbleiterscheiben und sterben zu machen. Es ist ein berührungsloses bildgebendes Gerät, das ein hochauflösendes optisches Mikroskop verwendet, um hochauflösende Bilder der Wafer-Bump-Analyse und Fehlererkennung schnell zu erfassen. Der Prober ist für den Einsatz in Produktionsprozessen und in Forschungs- und Entwicklungslaboren konzipiert. TEL PR200Z Prober verfügt über einen großen 200mm-Wafer-Tisch, ein fortschrittliches, integriertes Vision-System mit einer CCD-Kamera und einer dedizierten Anwendungssoftware und einen hochgenauen Motion-Controller, um eine präzise Waferbewegung zu gewährleisten. Es ist mit acht unabhängigen motorisierten Stufen und einem XY θ Tisch ausgestattet und bietet verschiedene Optionen für die Ausrichtung des Wafers. Der Prober verfügt über einstellbare grobe/feine Noppen zur präzisen Positionierung, eine Positionierleuchte und eine Spindelgeschwindigkeitsanzeige für einen einfachen Zugang zur Probe. Es enthält auch eine optische Zeichenerkennungseinheit (OCR), die verwendet werden kann, um visuell importierbaren Text auf dem Wafer zu identifizieren. TOKYO ELECTRON PR200Z Prober wurde entwickelt, um einen effizienten Durchsatz und eine hohe Leistung zu bieten. Es verwendet eine 20nm Wiederholbarkeit für das schnelle Scannen von Wafern über große Flächen. Es verfügt auch über einen schnellen Messmodus, um den Zuordnungsprozess zu beschleunigen, und verfügt über programmierbare Kantenerkennungsfunktionen, um Beulen und Beulen gleichzeitig schnell zu erkennen und zu messen. Darüber hinaus verfügt PR200Z Prober über eine Vielzahl fortschrittlicher Funktionen wie eine Autofokus-Maschine, eine verbesserte Lupe, eine automatische Ausrichtung und eine Wackelkorrektur, eine Werkzeugüberprüfung, eine Ein-Klick-Kompensation und eine Dual-Channel-Bildnaht, die ein schnelles und genaues Scannen und Analysieren ermöglicht. TEL/TOKYO ELECTRON PR200Z Prober ist kompatibel mit TEL umfassenden Angebot an integrierter EDA (Sondierung und Charakterisierung) Software, die den Testprozess automatisiert, um genaue und wiederholbare Ergebnisse zu gewährleisten. Die EDA-Software umfasst Funktionen zum Einrichten und Ausführen von Tests, zur Analyse von Ergebnissen und zur Erstellung von Berichten. Es umfasst Messfähigkeiten für eine breite Palette von Halbleiterstrukturen, wie Photolithographie, Transistoren, Widerstände, etc. Der Prober ist eine kostengünstige Lösung zur Zuverlässigkeitsprüfung von Bauteilen in Forschungs- und Entwicklungslabors.