Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON PR300Z #293821718 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON PR300Z ist ein hochmoderner Prober, der speziell für Halbleiterwafertests entwickelt wurde. Der Prober ist in der Lage, Hochleistungs-Halbleiterbauelemente wie Transistoren, Dioden und BJTs für Single, Double und Triple Level Wafer zu testen. TEL PR300Z hat eine maximale Wafergröße von 30mm, eine maximale Waferdicke von 2,5 mm und eine Gesamtdicke von 1,6mm. Es verfügt über einen hochempfindlichen Waferkantendetektor zur genauen Ausrichtung von Wafern. TOKYO ELECTRON PR-300Z verfügt über eine 200nm Vakuum-Erkennungsgenauigkeit, zusammen mit einem fortschrittlichen Wärmebildsystem, das Temperaturverschiebungen, Risse und fehlende Komponenten auf dem Wafer schnell identifizieren kann. Sein patentiertes thermisches Validierungssystem (TALV) bietet eine gründliche Überprüfung der Wafertemperatur vor Ort, sodass Benutzer sicherstellen können, dass ihr Gerät ordnungsgemäß funktioniert. Das TALV ermöglicht auch die Implementierung eines Pilotwaferlaufs in derselben Charge, um die Eignung einer Prozesseinstellung zu bestätigen, bevor mit der Produktion begonnen wird. Der Prober ist hochwirksam bei der proaktiven Erkennung kleiner Defekte und Mängel auf dem Wafer und ermöglicht so ein schnelles Eingreifen und Lösen. TOKYO ELECTRON PR300Z verfügt zudem über eine einstellbare Profilfunktion, mit der Benutzer die Sondenkraft, den Kompensationsdruck und die Kontaktkraft des Sonden schnell anpassen können. Diese Funktion trägt dazu bei, eine wiederholbare Kontaktkraft unabhängig von Unterschieden zwischen Wafern sicherzustellen, was eine konsistente Prüfung ermöglicht. Darüber hinaus verfügt PR300Z über eine Wafer-gemusterte Testsignal-Abtastfähigkeit, die eine Prozessvalidierungsprüfung einer Vielzahl von Funktionen ermöglicht. PR-300Z ist ein hochzuverlässiger und fortschrittlicher Prober mit einer Vielzahl von Funktionen, die ihn für eine Vielzahl von Halbleiter-Wafer-Testanwendungen geeignet machen. Es ist einfach zu bedienen und zu warten, so dass es eine gute Wahl für alle Halbleiter-Wafer-Test-Anforderungen.