Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON PR300Z #9251838 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON PR300Z ist ein Prober, der für die Prüfung der Leistungsfähigkeit von Halbleiterbauelementen entwickelt wurde. Es ist ein hochgenaues und zuverlässiges Instrument zum Testen verschiedener Parameter wie Widerstand, Kapazität, HF-Signale und andere elektrische Eigenschaften. TEL PR300Z ist mit einer 6-Zoll-Stufe für bis zu 4-Zoll-Wafer sowie einem leistungsstarken Motor ausgestattet, der bis zu 1,5 m/s Sondierungskraft bereitstellen kann. TOKYO ELECTRON PR-300Z wurde entwickelt, um die elektrischen Eigenschaften von Halbleiterbauelementen genau zu erfassen und zu messen. Es kann schnell eine Vielzahl von elektrischen Eigenschaften wie Spannung, Strom, Widerstand, Kapazität und HF-Signale messen. Die Genauigkeit des Instruments beträgt ± 0,1% des gesamten Bereichs, so dass es die Eigenschaften von Halbleiterbauelementen fehlerfrei genau messen kann. PR-300Z können in einer Vielzahl von Anwendungen eingesetzt werden. Es wird verwendet, um die Parameter von Halbleiterbauelementen auf Wafern zu messen, Prozesssteuerung in Halbleiterherstellungsprozessen durchzuführen und funktionale Bauelemente an Bord zu testen. Es wird auch in der Fehleranalyse, Produktqualifizierung und Entwurf und Bewertung von Halbleiterbauelementen verwendet. Es kann auch für Forschungs- und Entwicklungszwecke verwendet werden. In Bezug auf seine Eigenschaften kommt TEL PR-300Z mit einem fortschrittlichen optischen Sondenausrichtungssystem für genaue Messungen und verbesserte Genauigkeit. Es ist auch mit hochpräzisen Vakuumpads für erhöhten Grip auf dem Wafer während der Prüfung oder Sondierung ausgestattet. Darüber hinaus ist es mit einem fortschrittlichen Auto-Feed-System für einfaches Einsetzen von Wafern und erhöhten Durchsatz ausgestattet. Darüber hinaus verfügt es über eine HF-abgeschirmte Umgebung zum Schutz vor EMI und anderen Umgebungslärm. TOKYO ELECTRON PR300Z ist ein äußerst vielseitiges Instrument zur Prüfung von Halbleiterbauelementen für eine Vielzahl von Anwendungen. Es ist zuverlässig, genau und in der Lage, Parameter von Halbleiterbauelementen schnell zu messen. Es hat auch mehrere erweiterte Funktionen, wie optische Sondenausrichtung, Vakuumpads und ein Auto-Feed-System. Diese Eigenschaften machen es eine gute Wahl für die Prüfung und Messung von Halbleiterbauelementen.