Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON Precio Octo #9151753 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON Precio Octo prober ist eine Ausrüstung zur Überwachung und Prüfung von Halbleiterscheiben. Das System verwendet eine Reihe von Sonden, um verschiedene elektrische Parameter auf der Waferoberfläche zu messen, wie Vd/Vg, Leckstrom, Ätzstrom und Filmdicke. Die Sonde ist mit einer patentierten Kontaktstruktur ausgebildet, die es ermöglicht, den Wafer zuverlässig und wiederholbar genau zu analysieren und zu messen. Der Prober besteht aus drei Hauptkomponenten: einem Tisch, einem Wafer-Futter und den Sonden. Der Tisch dient dazu, das Waferfutter sicher zu halten und während des Tests zu stabilisieren. Das Wafer-Futter ist eine Platte aus vier vertikalen Stangen, die den Wafer während der Prüfung halten. Je nach Wafertyp kann das Futter auf unterschiedliche Höhen eingestellt werden, so dass der Prober den gesamten Wafer abdecken kann. Die Sonden sind am Waferfutter befestigt und sehr präzise ausgelegt, um die Prüfparameter genau zu messen. TEL Precio Octo Prober verfügt auch über eine vollautomatische Einheit. Es verwendet einen Sensor und eine Bewegungssteuerungsmaschine, um das Wafer-Spannfutter und die Sonden genau an die gewünschte Position auf dem Wafer zu bewegen. Dadurch wird sichergestellt, dass jeder Wafer auf die gleiche Weise getestet wird, was dazu beiträgt, jede Variation zwischen Wafern zu verringern. Der Prober verfügt auch über eine Touchscreen-Schnittstelle, die es den Bedienern erleichtert, das Werkzeug einzurichten und zu bedienen. Die Anlage kann so programmiert werden, dass spezifische Tests auf verschiedenen Arten von Wafern durchgeführt werden, was bedeutet, dass der Prober zum Testen einer Vielzahl von Wafern verwendet werden kann. Es verfügt auch über einen internen Speicher, der bis zu 100 Programme speichern kann, so dass alle notwendigen Testparameter für einen bestimmten Wafertyp gespeichert werden können. TOKYO ELECTRON Precio Octo Prober ist ein zuverlässiges und präzises Modell zur Prüfung und Messung von Halbleiterscheiben. Es bietet eine kostengünstige und genaue Möglichkeit, Änderungen der elektrischen Eigenschaften der Waferoberfläche zu überwachen. Durch die Verwendung einer Kombination von Sonden und einer automatisierten Ausrüstung ist das System in der Lage, alle gewünschten Parameter mit Wiederholbarkeit genau zu messen.