Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON Precio Octo #9362671 zu verkaufen

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ID: 9362671
Wafergröße: 8"
Weinlese: 2011
Prober, 8" Golden TRX hot and cold chuck top assy Chiller: C255 Temperature: -55 ~ +200 Right side single top loader WAPP 2011 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON Precio Octo ist ein spezialisierter Halbleiter Metrologie und Inspektion Prober. Es wurde speziell entwickelt, um Halbleiterscheiben und Komponenten mit hoher Genauigkeit zu überprüfen. TEL Precio Octo ist mit drei verschiedenen Technologien für die Halbleitermessung ausgestattet: Optische Messtechnik, Elektron Paramagnetic Resonance (EPR) -Messung und Magnetic Force Microscopy (MFM). Optische Messtechnik ermöglicht präzise Messungen von Merkmalen auf dem Wafer mit fortschrittlicher Optik. Mit der langwelligen Infrarot-Ausrüstung (LWIR) von TOKYO ELECTRON Precio Octo ist es in der Lage, kleine mikrogeometrische Strukturen mit einer Genauigkeit von 5 nm oder besser zu messen. Diese Technologie eignet sich besonders für Anwendungen mit hoher Dichte, bei denen Präzision unerlässlich ist. Die EPR-Messungen sind wesentlich für die Bestimmung der elektrischen Eigenschaften eines Materials. Precio Octo verwendet eine Hochfrequenz-UFH-Sonde, um die elektrischen und optischen Eigenschaften des Materials bei verschiedenen Temperaturen mit einer hochgenauen Genauigkeit von 2 µm/2% zu messen. Dieses System ist in der Lage, die Dotierstoffkonzentration, Fehlerdichte, Diffusionslänge und andere elektrische Eigenschaften genau zu messen. Die MFM-Technologie liefert das detaillierteste Bild der Oberfläche des Wafers. TEL/TOKYO ELECTRON Precio Octos MFM-Einheit hat eine Auflösung von 10-20nm und eine Messgenauigkeit von 3nm, so dass ultrapräzise Messungen durchgeführt werden können. Mit ihrem Kraftbereich von 0.25-25N ist die Maschine in der Lage, die Oberflächentopographie des Wafers genau zu messen. TEL Precio Octo ist ein hochentwickelter Halbleitermesstechnik- und Prüfprober, der für Inspektions- und Messanwendungen mit höchsten Genauigkeitsanforderungen entwickelt wurde. Die Kombination aus fortschrittlicher optischer Messtechnik, EPR- und MFM-Technologie bietet eine beispiellose Präzision, die es Anwendern ermöglicht, Halbleiterbauelemente zuverlässig zu überprüfen und zu messen.
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