Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON Precio Octo #9397007 zu verkaufen

ID: 9397007
Weinlese: 2015
Prober Tri-temperature unit with OCR Chuck, 8" 2015 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON Precio Octo ist ein Probertyp, der speziell für die Verifizierung und Fehlerisolierung von optischen Chips entwickelt wurde. Es ist ein hochpräziser, voll funktionsfähiger Prober, der kleine optische Chips schnell und präzise auf Fehler messen kann, wodurch ein zuverlässiger Betrieb und eine optimale Leistung gewährleistet sind. TEL Precio Octo Prober verfügt über eine 300mm Waferkapazität, einen Verfahrbereich von 20mm X, 20mm Y-Achse und eine Z-Achse Höhe von 7.65mm. Es kann mit einer hochpräzisen Abtastsonde ausgestattet werden, die Bereiche mit hoher Genauigkeit und Zuverlässigkeit präzise testen kann. TOKYO ELECTRON Precio Octo kann mehrere Werte gleichzeitig an verschiedenen Stellen auf einem Chip messen und ist damit ideal für Massenproduktionslinien-Auswertungen geeignet. Darüber hinaus kann der Wafer schnell und einfach geladen werden und ermöglicht schnelle Produktmusterwechsel. Um die Prüfgenauigkeit zu maximieren, ist Precio Octo mit hochpräzisen Sondenarmen ausgestattet. Durch Synchronisation mit dem Wafer-Prober kann die genaue Position und Orientierung jeder Sonde bestimmt werden, was eine optimale Leistung gewährleistet. Es kann auch automatisch Sondenkräfte einstellen, um Mikrofehler genau zu erkennen. TEL/TOKYO ELECTRON Precio Octo ist so konzipiert, dass es mit den meisten Waferprobern und Wäschern kompatibel ist, sodass es einfach ist, sich in bestehende Bearbeitungslinien zu integrieren. Es ist auch sehr anpassbar, um die spezifischen Bedürfnisse jedes Kunden zu erfüllen. Darüber hinaus unterstützt es eine Vielzahl von automatischen Waferausrichtungs- und Spannfutterrotationsmechanismen, so dass es sofort Abweichungen in Durchmesser und Dicke des Wafers erkennen kann und eine zuverlässige Leistung zu jeder Zeit gewährleistet. Die Kombination aus fortschrittlicher Hardware und Software macht TEL Precio Octo zu einer unschätzbaren Ergänzung zu jeder präzisen optischen Chip-Verifizierung und Fehlerisolierung.
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