Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON Precio #293748590 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON Precio ist ein Prober, der vom japanischen Hersteller von Halbleiterprüf- und Fertigungsanlagen, TEL. Der Prober dient der Prüfung und Auswertung von Halbleitermaterialien und -bauelementen. Seine primäre Funktion besteht darin, die elektrischen Eigenschaften der Halbleiterbauelemente wie Widerstand, Kapazität und Leistungstransformation zwischen dem Bauelement und einem Substrat zu messen. Der Prober dient auch zur Prüfung anderer elektrischer Eigenschaften, wie Rauschimmunität und Signalausbreitung. TEL Precio ist eine Halbleiter-Multi-Sonden-Station und verwendet eine Säulenstruktur und ein X, Y, Z-Achsen-Koordinatensystem zum Testen. Die Multi-Sonden-Station ist mit fortschrittlicher Software zur Programmierung und Steuerung der Prüfparameter und der Sonden ausgestattet. Zur Prüfung werden die Sonden zunächst am Bauteil oder Gerät positioniert. Das Bauelement bzw. die Vorrichtung wird dann auf dem Substrat positioniert und die Messung erfolgt durch Anlegen einer Signalspannung an das Bauelement. Die Sonden messen dann die Strom- und Signaländerungen während und nach dem Signalauftrag. TOKYO ELECTRON Precio ist für Hochgeschwindigkeitsprüfungen konzipiert und kann gleichzeitig bis zu acht verschiedene Komponenten testen. Die Multi-Sonde-Station ist in der Lage, bei Frequenzen bis zu 500KHz genau zu messen. Die eingebaute Selbsttestoption ermöglicht die Überprüfung der Kalibrierung des Probers vor der Durchführung der Tests. Precio verfügt über eine einfach zu bedienende grafische Benutzeroberfläche mit einem optimierten Betriebssystem, um den Betrieb schnell und effizient zu gestalten. Die Multi-Sonde-Station ist tragbar und kann auf kleinem Raum im Produktionsstandort platziert werden. Das System erfordert wenig Wartung und ist einfach einzurichten. TEL/TOKYO ELECTRON Precio ist eine zuverlässige, effiziente und kostengünstige Lösung zur Prüfung und Bewertung von Halbleitermaterialien und -bauelementen. Es bietet Hochgeschwindigkeitsmessfähigkeiten zu einem Bruchteil der Kosten herkömmlicher, manueller Prüfsysteme. Der Prober ist auch vielseitig einsetzbar und kann zum Testen verschiedener Typen von Halbleiterbauelementen und -bauelementen verwendet werden.