Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON Precio #293770056 zu verkaufen

TEL / TOKYO ELECTRON Precio
Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
Precio
ID: 293770056
Prober Chuck non-functional.
TEL/TOKYO ELECTRON Precio ist ein Prober, der für Wafer-Tests und Produktionsprozessüberwachung entwickelt wurde. Es ist eine hochintegrierte Ausrüstung, die eine Wafer Stepper, Futter und Sonde Karte Montage kombiniert, PC-basierte Steuerung, und eine CCD optische Inspektionseinheit. Die Maschine umfasst Inspektions- und Messfähigkeiten für dünne Wafer bis 5 Zoll Durchmesser und ermöglicht eine genaue elektrische, physikalische und thermische Charakterisierung von Geräten. Das Werkzeug verfügt über ein proprietäres Prober-Design mit integriertem Schrittmechanismus. Dies ermöglicht eine präzise Bewegung des Wafer-Spannfutters und der Sondenkarte, was präzise Messungen ohne äußere Kraft, wie das Andrücken des Spannfutters an den Wafer, ermöglicht. Darüber hinaus minimiert der Schrittmechanismus auch die Anzahl der Bewegungen des Wafers, um die Geräteparameter zu messen. Die Anlage verfügt zudem über ein hochgenaues optisches Inspektionsmodell, das eine mikroskopartige Inspektion der Waferoberfläche ermöglicht. Das Gerät hat eine Auflösung von 8 um, die verwendet werden kann, um die Gerätestrukturen und andere Merkmale zu überprüfen, einschließlich Dünnschichtschichten, Kontaktpads, Lötverbindungen und mehr. Darüber hinaus verfügt das System über eine integrierte thermische Steuerung, die es Anwendern ermöglicht, die thermische Umgebung der Wafer während des Messvorgangs genau zu steuern. Der PC-basierte Controller bietet eine einfach zu bedienende Schnittstelle mit den notwendigen Dateneingaben, so dass Benutzer Messungen einrichten und Daten schnell sammeln können. Es bietet auch eine Reihe von Analysetools, mit denen Benutzer die von der Einheit gesammelten Daten auswerten und hochgenaue Berichte erstellen können. Die Maschine wurde entwickelt, um mit einer Vielzahl von Wafertypen zu arbeiten, einschließlich Galliumarsenid (GaAs), Silizium (Si) und Indiumphosphid (InP). Mit seinem flexiblen Design ist es in der Lage, Kontaktwiderstand, Leckstrom, Geräteeigenschaften, thermische Reaktion und andere Geräteeigenschaften zu messen. Die erweiterten Konstruktions- und Softwarefunktionen des Tools führen zu hochgenauen und zuverlässigen Messungen.
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