Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON Precio #293778644 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON Precio ist ein Dual-Strahl-Rasterelektronenmikroskop (SEM) -Prober, der in Forschungs- und Produktionslaboren weit verbreitet ist. Es ermöglicht die Untersuchung der elektrischen und geometrischen Eigenschaften unterschiedlichster Materialien und Geräte. Der Prober kombiniert eine Hochspannungselektronenquelle, einen Sekundärelektronendetektor und eine jeweils auf die jeweilige Anwendung zugeschnittene Abtaststufe. Dies ermöglicht Flexibilität bei Sondierungsgeräten mit elektrischen oder mechanischen Eigenschaften. Die Elektronenquelle arbeitet im Ultrahochvakuum, um die Leistung des Elektronenstrahls zu optimieren. Es kann entweder eine herkömmliche Elektronenkanone oder eine Feldemissionsquelle verwenden. Die Quelle kann mit hohen Elektronenenergien bis zu 15 keV für Studien an dicken Materialschichten oder bis zu 30 bis 150 keV für Studien an tieferen Strukturen betrieben werden. Der Sekundärelektronendetektor des Probers dient zur Bestimmung der Topologie des Objekts sowie zur Gewinnung von Bildern und Analyse von kompositorischen Daten. Der Detektor hat eine Empfindlichkeit von 0,1-100 Elektronenvolt (eV) und kann zur hochauflösenden Abbildung von Proben verwendet werden. Auch die Energieauflösung des Detektors ist sehr hoch und reicht bis zu 0,5 eV. Die Abtaststufe des Probers besteht aus einem Fünf-Achsen-Bewegungssystem, mit dem die Probe in den Richtungen X, Y, Z, Pan und Tilt unter Computersteuerung bewegt werden kann. Dadurch kann der Prober an verschiedenen Stellen der Probe den Kontaktwiderstand messen. Der Prober ist in der Lage, eine Reihe von Messungen durchzuführen, einschließlich Strom-Spannung, Kapazität-Spannung, Transkonduktanz und Widerstand. Diese Messungen dienen der Speicherung von Daten und geben Einblick in die Eigenschaften der Probe. Es ermöglicht auch die Untersuchung von dünnen und zerbrechlichen Strukturen, wie sie in Halbleiterbauelementen vorkommen. TEL Precio ist ein vielseitiger Prober, der präzise und schnelle Messungen für eine Reihe von Materialien und Geräten ermöglicht. Es wurde für bildgebende und elektrische Messungen in vielen Forschungs- und Produktionslabors verwendet und gilt weithin als einer der vielseitigsten verfügbaren Prober.