Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON Precio #293806769 zu verkaufen
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ID: 293806769
Wafer prober
Nickel plated chuck
Ambient temperature
480SQ Head plate
WAPP
Remote touch screen
Interface: GPIB
FOUP Loader, 12"
Cassette, 8".
TEL ist ein Prober für Wafer-Sondierungsanwendungen. Es ist eine halbautomatische Sondenstation, die eine genaue Prüfung von Wafern und anderen Halbleiterbauelementen ermöglicht. Der Prober ist mit einer XY-Bewegungsstufe, einer hochpräzisen Z-Achsen-Bewegung und einer Hochgeschwindigkeits-Scanausrüstung für eine Vielzahl von Wafer-Sondierungsaufgaben ausgelegt. Darüber hinaus verfügt der Prober über eine schwingungsarme dreiachsige Motorsteuerung, die eine maximale Genauigkeit während der Sondierung gewährleistet. Das Gerät bietet auch eine Vielzahl von Funktionen zur Unterstützung automatisierter Wafer-Sondierung und Tests. Es wurde mit einer Kombination aus digitalen Schaltungen und analogen Schnittstellenschaltungen entwickelt, um eine präzise Wafer-Sondierung und eine präzise Wafer-Panel-Handhabung zu ermöglichen. Dies macht es möglich, mit einer Vielzahl von Wafern zu arbeiten, einschließlich Standard, CNA (Corner Notch Alignments), Nicht-Standard-Größen, sowie verschiedene nicht-flache Substrate. Die Maschine ermöglicht auch Hochfrequenzbetrieb bis zu vier Megabyte. Auf diese Weise wird sichergestellt, dass die Prüfung und Sondierung des Wafers mit der zur Gewährleistung der Genauigkeit der Prüfergebnisse erforderlichen Genauigkeit durchgeführt wird. Das benutzerfreundliche Design des Tools ermöglicht es Benutzern, eine breite Palette von Sondensequenzen für die Wafer-Sondierung einzurichten. Es enthält auch Sicherheits- und Überwachungsfunktionen, um Waferschäden zu verhindern. Darüber hinaus verfügt der Prober über vier Replikationsstufen für die Probeninszenierung. Dies bietet Anwendern flexible Platzierungsmöglichkeiten für verschiedene Wafergrößen und -orientierungen. Darüber hinaus umfasst das Asset eine Auto-Match-Funktion, mit der Benutzer einen Chip-Standort im Wafer schnell finden und identifizieren können. Dies hilft sicherzustellen, dass das genaueste Testergebnis erzielt wird. Der Prober verfügt auch über eine flexible Prozessumgebung mit verschiedenen Möglichkeiten zur Datenerfassung wie Waferausrichtung, Fehlrichtungskompensation, Signalintegritätsmessung, thermische Datenerfassung usw. Darüber hinaus ist dieser Prober für die Einhaltung EIA-JESD-228 Prüfanforderungen zertifiziert. Dies ist ein Standard für die Prüfung von Produkten auf elektromagnetische Verträglichkeit. Insgesamt ist TOKYO ELECTRON prober für Wafer-Sondierungsanwendungen mit Schwerpunkt auf Genauigkeit und Präzision konzipiert. Es bietet eine Vielzahl von Funktionen, um präzise Wafer Sondierung und genaue Wafer Panel Handhabung zu bieten. Das Modell verfügt auch über eine flexible Prozessumgebung für verschiedene Anwendungen wie Waferausrichtung, Fehlausrichtungskompensation, Signalintegritätsmessung, thermische Datenerfassung usw. Darüber hinaus ist es auch zertifiziert, um mit EIA-JESD-228 Prüfanforderungen konform zu sein.
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