Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON Precio #293818737 zu verkaufen

Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
Precio
ID: 293818737
Weinlese: 2006
Wafer prober 2006 vintage.
TEL Prober ist eine automatisierte Prober-Ausrüstung, die entwickelt wurde, um präzise Messungen der elektrooptischen und elektrischen Eigenschaften für die Halbleiter-Wafer-Prüfung bereitzustellen. Das System ist in der Lage, verschiedene Parameter zu messen, einschließlich Dielektrizitätskonstante, Dicke, Widerstand und Isolationsdurchbruchspannung. Es ist auch in der Lage, Kapazitäts-, Strom-, Widerstands- und Leistungsmessungen bei verschiedenen Frequenzen durchzuführen. Das Gerät besteht aus einem eingebetteten Controller, mehreren Touchscreens und einer integrierten Sondenkarte. Die integrierte Sondenkarte besteht aus einer starren mechanischen Struktur, die für unterschiedliche Höhen- oder Befestigungskonfigurationen einstellbar ist. Die Maschine wird auch mit Software geliefert, mit der Benutzer Daten erfassen, speichern und manipulieren können. TOKYO ELECTRON Prober ist ein vielseitiges Werkzeug, das sowohl in Labors als auch auf Produktionslinien eingesetzt werden kann. Es kann verwendet werden, um Wafer-Chip-Eigenschaften während der Produktion oder im Montageprozess zu messen. Die automatischen Wafer-Mapping- und Analysefunktionen des Asset ermöglichen genaue und präzise Messungen. Der Embedded Controller ist für die Steuerung des Modells und die Verwaltung aller Messaufgaben zuständig. Er koordiniert die Bewegung der x-y-Stufen, der z-Achsen-Stufe und des motorisierten Tastkopfes, mit dem die Messungen durchgeführt werden. Die mehreren Touchscreens dienen der direkten Ein-/Ausgangskontrolle und erstellen verschiedene Einstellungen für den Controller. Der Tastkopf besteht aus mehreren Kontaktelementen, die in Abhängigkeit von den gewünschten Meßparametern eingestellt oder kalibriert werden können. Insgesamt ist TEL/TOKYO ELECTRON Prober eine fortschrittliche Prober-Ausrüstung, die in der Lage ist, präzise Messungen von elektrooptischen und elektrischen Eigenschaften für Halbleiter-Wafer-Tests bereitzustellen. Seine erweiterten Funktionen, darunter ein eingebetteter Controller, mehrere Touchscreens und eine integrierte Sondenkarte, ermöglichen eine breite Palette von Messfunktionen. Seine Flexibilität und Vielseitigkeit machen es sowohl in Labor- als auch in Produktionseinstellungen nützlich und ermöglichen genaue und präzise Messungen.
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