Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON Precio #293826425 zu verkaufen

Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
Precio
ID: 293826425
Weinlese: 2007
Wafer prober 2007 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON Precio ist ein Prober, der für fortgeschrittene Wafer-Sondierungsanwendungen entwickelt wurde und präzise Hochgeschwindigkeitsmessungen von Halbleiterbauelementen bietet. Es ist für Aufgaben wie Wafer-Level Device Testing und Verification, Device Parametric Testing, Device Failure Analysis, Prozessmonitor und vieles mehr konzipiert. Dieser Prober eignet sich für Laborfehleranalyseanwendungen und Produktionstests von Halbleiterbauelementen. Die geringe Standfläche des Probers macht es für verschiedene Größen von Prüfständen geeignet. Es ist sowohl mit manuellem als auch automatischem Betrieb kompatibel. Die XY-Achsen werden von DC-Servomotoren angetrieben, die eine schnelle und gleichmäßige Bewegung für eine präzise Ausrichtung des zu prüfenden Geräts liefern. TEL Precio prober verfügt auch über ein Auto Align Vision System, das eingerichtet werden kann, um eingebaute Vision-Kameras für die genaue Positionierung von Sonden zu verwenden. Die branchenführende Wiederholbarkeit und Genauigkeit sowie mehrere Konfigurationen des Probers gewährleisten eine zuverlässige Prüfung der anspruchsvollsten Gerätedesigns und Test-Setups. Der Wafer-Prober ist mit einer kompletten Palette von automatischen Kalibrierfunktionen sowohl für die XY-Achse als auch für die Sonden ausgestattet, was eine überlegene Flexibilität und hohe Durchsatztests auch in den komplexesten Testszenarien ermöglicht. Der Prober bietet darüber hinaus eine hervorragende Temperaturregelung und Stabilität durch den Einsatz eines Zwangsluftkühlsystems mit integriertem Thermostat, um sicherzustellen, dass das zu prüfende Gerät nicht durch Temperaturschwankungen beeinflusst wird. TOKYO ELECTRON Precio prober ist auch mit verschiedenen Wafertypen kompatibel. Das Gerät ist auch für den Einsatz in nassen oder trockenen Prozessschritten ausgelegt. Precio Prober befasst sich mit der Notwendigkeit des heutigen Testbetriebs für hohe Leistung und Flexibilität in einem einzigen, kompakten Paket. In der Lage, eine Vielzahl von Gerätetypen mit Präzision und Genauigkeit zu behandeln, bietet dieser Prober eine Komplettlösung für Entwicklungs- und Produktionsprüfanforderungen jedes Halbleiterbauelements.
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