Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON Precio #9232739 zu verkaufen

TEL / TOKYO ELECTRON Precio
Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
Precio
ID: 9232739
Wafer prober.
TEL/TOKYO ELECTRON Precio ist ein Prober, der verwendet wird, um die elektrischen Eigenschaften von Halbleitern und anderen Arten von integrierten Schaltungen zu sondieren. Das Gerät verfügt über eine hohe Genauigkeit und hervorragende Wiederholbarkeit, um die elektrischen Parameter einer Vielzahl von Schaltungen genau zu messen. Es ist ideal zum Testen digitaler, analoger und gemischter Signal-ICs. TEL Precio ist mit einer 4-achsigen, Hochgeschwindigkeits-Waferstufe ausgestattet, die bis zu acht 2-Zoll-Wafer-tragende Kassetten aufnimmt. Diese Stufe wird durch eine X-Y-Z-Baugruppe und Präzisionslinearmotoren angetrieben, um die Prüfscheiben im dreidimensionalen Raum mit Geschwindigkeiten bis zu 360 mm/s genau zu bewegen. Die Stufe ist mit elektrostatischem Spannfutter (ESC) konfiguriert, um die höchste Wiederholbarkeit und Stabilität der Position der Stufen zu gewährleisten. Das System ist mit Wafern mit 25mm bis 300mm Durchmesser kompatibel und das Mikroskop bietet Platz für ein- und doppelseitige Wafer. Der Prober ist auch mit dem DCC-75 Schütz ausgestattet, der eine hochgenaue Sondierung mit eingebautem geschlossenen Regelkraftmodus ermöglicht. Es ist ein mechanischer Arm, der Sonden mit einer Genauigkeit von bis zu 25 µm und einer Wiederholbarkeit von bis zu 4 µm drückt und testet. Es verfügt auch über eine ausgezeichnete thermische Stabilität mit der Fähigkeit, mehrere Kontakte gleichzeitig zu testen. TOKYO ELECTRON Precio wird von der Teltech WAT-Software angetrieben, die es Anwendern ermöglicht, automatisierte, zuverlässige Tests zu entwerfen, einzurichten und zu steuern. Die Software kombiniert fortschrittliche Entwicklungs- und Produktionsfunktionen wie Check Scheduling, Wafer Mapping, statistische Prozesssteuerung, Graphengenerator, Rezeptbibliothek und Auto-Feedback, um Wiederholbarkeit, Geschwindigkeit und höhere Erträge zu gewährleisten. Das Gerät verfügt außerdem über ein Dual-Beam Digital Microscope (DMD) mit hoher Auflösung und Vergrößerung bis zu 5X zur genauen Überwachung der Sondenkontaktqualität. Die Kombination aus Integration, Zuverlässigkeit, Raffinesse und Genauigkeit macht Precio zu einem Prober der Wahl für Halbleiter- und andere IC-Tests.
Es liegen noch keine Bewertungen vor