Gebraucht TELEDYNE TAC PR-53 #293815717 zu verkaufen

TELEDYNE TAC PR-53 ist ein fortschrittlicher Wafer-Prober, der entwickelt wurde, um höchste Leistung und Genauigkeit in einer Produktionsumgebung zu bieten. Speziell für die Sondierung von integrierten Schaltkreisen (ICs) auf Submikron-Ebene entwickelt, bietet die PR-53 eine einfache und genaue Methode zur Prüfung von Parametern wie Kontaktwiderstand, Leckstrom und Düsenleistung. Das PR-53 ist mit Präzisionstechnikkomponenten ausgestattet, darunter eine vollautomatische XYZ-Bühne, hochpräzise Manipulatoren und ein Vision-basiertes System, das eine genaue Platzierung der Sonde gewährleistet. Diese Kombination von Funktionen ermöglicht es dem PR-53, Daten von verschiedenen Punkten auf der Waferoberfläche genau zu erfassen und aufzuzeichnen. Darüber hinaus ist das PR-53 mit einem hochmodernen, in die Maschine integrierten Datenerfassungs- und Steuerungssystem ausgestattet. Das PR-53 bietet eine Reihe von Funktionen, um jeden Sondierungsprozess so präzise und effizient wie möglich zu gestalten. Prober können angepasst werden, um eine Vielzahl von spezifischen Job-Anforderungen zu erfüllen. Beispiele für Merkmale, die angepasst werden können, sind: Größe und Ort der zu sondierenden Teile, Geschwindigkeit der Bewegung der einzelnen Sonden sowie die vertikale und planare Genauigkeit der Sondenbewegung. Die PR-53 umfasst auch automatische Qualifizierungs- und Validierungsservices, die sicherstellen, dass alle getesteten Teile den festgelegten Standards entsprechen. Der PR-53 ist ein leistungsfähiger und zuverlässiger Wafer-Prober. Seine benutzerfreundliche Oberfläche, fortschrittliche Technologien und anpassbare Funktionen machen es zu einer idealen Wahl für jede IC-Testumgebung. Seine Vielseitigkeit, Genauigkeit und Geschwindigkeit machen es zur perfekten Wahl für Serientests, Prototyping, Forschung und sogar Nanofabrikationslabore. Das PR-53 kann in vollständigen Systemkonfigurationen gekauft werden und ist ein unschätzbares Werkzeug für alle, die an einer hochpräzisen Sondierung von kleinen integrierten Komponenten interessiert sind.