Gebraucht TERADYNE 1004 N #9252878 zu verkaufen

TERADYNE 1004 N ist eine Sondenausrüstung für automatisierte Wafer-Level-Tests. Es verfügt über die Rechenleistung und Geschwindigkeit, um eine umfassende parametrische Prüfung mehrerer Geräte parallel zu ermöglichen. Das System wird von einem digitalen Computer gesteuert und über eine grafische Benutzeroberfläche (GUI) fernbedient. Es ist in der Lage, Wafer bis zu 3 „, 4“, 6 „8“ oder größer auf Anfrage aufzunehmen. Die Maschine verfügt über eine große Speicherkapazität, die es ermöglicht, über 1000 Testvektoren zu speichern. Es verfügt auch über mehrere integrierte Suchalgorithmen zur Optimierung parametrischer Testeinstellungen. Darüber hinaus enthält es eine erweiterte Fehlerortungs-Tag (FLT) -Funktion, die es ermöglicht, fehlerhafte Standorte innerhalb eines Geräts zu identifizieren. Der automatisierte Prober verfügt über ein neues Design für konfokale Sondenkartentechnologie. Diese Technologie bietet eine verbesserte Genauigkeit bei der Kontaktsondierung, indem die Spotting-Kraft der Sonden fokussiert wird. Sie gewährleistet auch einen geringen und gleichmäßigen elektrischen Kontakt zwischen den montierten Geräten und dem Prüfkopf. Das Gerät ist mit mehreren Sicherheitsmerkmalen ausgelegt, um das Gerät vor thermischen Belastungen und körperlichen Schäden zu schützen. Der Prober verfügt über ein mechanisches Programm, das Kontaktkräfte bewertet, um routinemäßige mechanische Belastungen und Driften zu verhindern. Es hat auch ein elektrisches Programm, um eine übermäßige elektrische Leckage beim Testen komplexer oder Hochspannungsgeräte zu verhindern. Zur Messung parametrischer Daten während des Testprozesses unterstützt der Prober eine Vielzahl von Messtechniken wie Zeitbereichsreflektometer (TDR), Kapazität-Spannung (CV), Source und Drain Kapazität (SCR) und andere. Es ist auch in der Lage, Datenvorschau und grafische Blattgenerierung. 1004 N ist auch in der Lage, detailliertes Echtzeit-Feedback zu Testergebnissen zu liefern. Es ermöglicht die Speicherung eines Wellenformbereichs zur weiteren Analyse im Falle eines Fehlversuchs. Auf diese Weise können Ingenieure die Quelle eines fehlgeschlagenen Tests schnell identifizieren und ermitteln. Zusammenfassend ist TERADYNE 1004 N eine fortschrittliche Probermaschine, die für automatisierte Wafer-Level-Tests entwickelt wurde. Es bietet eine effiziente und zuverlässige Plattform, um alle Arten von elektronischen Geräten schnell und genau zu testen. Es verfügt über eine fortschrittliche konfokale Sondenkartentechnologie, mehrere Sicherheitsfunktionen und leistungsstarke Messtechniken sowie Echtzeit-Feedback zu Testergebnissen.