Gebraucht TOKYO SEIMITSU UF50 #9172909 zu verkaufen

TOKYO SEIMITSU UF50 ist ein hochpräziser, motorisierter vertikaler und horizontaler Prober, der speziell für Halbleiter-auf-Wafer-Messtests entwickelt wurde. Seine präzise Auflösung und Motoren machen es ideal für den Einsatz in hochzuverlässigen Halbleitermessanwendungen. Der Prober besteht aus einem Proberkopf, einer Sondenstufe, einer Proberschiene, einer Proberbasis, einem Controller und einem optischen Mikroskop. Der Tastkopf weist zwei hochpräzise Linearmotoren auf, die die zweidimensionale (X, Y) Bewegung der Taststufe zur Positionierung ihrer Tastsonde steuern. Die vertikale Bewegung der Taststufe wird durch einen Präzisionslinearmotor innerhalb des Tastkopfes gesteuert. Die Sondenstufe ist auf einer Präzisionsschienenausrüstung montiert, die eine reibungslose Abtastung in Z-Richtung (vertikal) und Drehbewegung in der XY-Ebene ermöglicht. Der Proberkopf ist auf dem Probersockel montiert, der die strukturelle Unterstützung für das gesamte System bietet. UF50 nutzt einen 4-eckigen Mikropositionierer-Mechanismus und eine im Proberkopf integrierte Laserausrichteinheit. Es hat die Fähigkeit, die Neigung und Drehung des Testwafers mit einer ausgezeichneten Wiederholbarkeit genau zu messen. Der Prober unterstützt auch eine standardmäßige oder maßgeschneiderte Halterung auf der Sondenbühne. Diese Funktion ermöglicht es dem Benutzer, mehrere Standorte zu sondieren und komplizierte Sondierungsmuster auszuführen, wodurch es für die Hochdurchsatzsondierung geeignet ist. Der Prober ist mit einer hochauflösenden CCD-Kameramaschine und unterstützender Software ausgestattet. Die CCD-Kamera erfasst die Bilder des Testwafers und meldet die Messungen zur weiteren Analyse durch den Controller. Der Controller bietet eine Vielzahl von Softwareoptionen, wie High-Level Programming Language (HLL), die eine Vielzahl von Operationen mit dem Prober durchführen können. TOKYO SEIMITSU UF50 ist sehr zuverlässig, leicht und tragbar. Es ist modular aufgebaut und ermöglicht es Benutzern, Module nach Bedarf zu aktualisieren. Dieses Merkmal erhöht die Lebensdauer des Probers, da es einfach aufgerüstet werden kann, ohne die gesamte Einheit zu ersetzen. Der Prober bietet Anwendern eine Reihe von Testfunktionen, einschließlich thermischer Charakterisierung, Haltbarkeitsprüfung und Expositionstests. Dies macht es für eine Vielzahl von Anwendungen wie Halbleiterherstellung, Qualitätssicherung und Fehleranalyse geeignet.