Gebraucht TSE / MPI LEDA-6SFA #293757354 zu verkaufen

Hersteller
TSE / MPI
Modell
LEDA-6SFA
ID: 293757354
Weinlese: 2008
Semi-auto wafer prober 2008 vintage.
TSE/MPI LEDA-6SFA ist ein Prober, der speziell für den Einsatz in fortgeschrittenen Halbleiterproduktionsprozessen entwickelt wurde. Es ist ein idealer Prober für die Inspektion und Prüfung von integrierten Schaltungen (ICs) mit Größen von 0,5 mm bis 120 mm und für Sondierungsflächen von bis zu 25 Mikron. Der Prober verfügt über eine sechsachsige Bewegungsausrüstung, die eine genaue, wiederholbare und schnelle Sondierung verschiedener Gerätestrukturen ermöglicht. Dieses Bewegungssystem ermöglicht es dem Prober, effektiv auf verschiedene Punkte des Geräts zuzugreifen und gleichzeitig die Neigung und Steigung des Wafers auszugleichen. Die optische Einheit wurde entwickelt, um die gesamte Einstellzeit zu reduzieren und eine überlegene Genauigkeit zu bieten. Darüber hinaus verwendet der Prober mehrstufige Ausrichtungstechnologie. Dadurch kann sich der Prober an mehreren Ebenen verschiedener Waferorientierungen ausrichten. Die hohe Ausrichtgenauigkeit gewährleistet die genaue Platzierung von Kontaktspitzen auf Next-Level-Geräten. Der Prober verfügt auch über einen einzigartigen High-Speed-Multi-Die-Prober, der eine schnelle Sondierung für mehrere Matrizen gleichzeitig ermöglicht. Dieser Multi-Die-Prober kann genau auf die anspruchsvollsten Geräte mit hohen Ausbeute zugreifen und sondieren. Der Prober verwendet außerdem eine geräuscharme Architektur, die zur Verringerung von Störgeräuschen beiträgt und für hohe Erträge sorgt. Der Prober ist mit mehreren Sonden ausgelegt, wobei jede Sonde eine unabhängige, unabhängige Kontaktdruckregelung und einen wiederholbaren Anpressdruck bietet. Dies hilft, Kontaktschäden zu reduzieren und ermöglicht eine genauere Sondierung. Der Prober verwendet auch eine leistungsstarke, geschlossene Schleife Wafer Tracking-Maschine. Dieses Tool bietet eine unübertroffene Genauigkeit bei der Sondierung schwieriger Werkzeuge. Darüber hinaus enthält es ein Fernkalibriermodul, mit dem Kunden die Leistung des Probers überwachen und analysieren können. Insgesamt ist TSE LEDA-6SFA prober eine ideale Lösung für die Durchführung genauer und ertragreicher Sondierung und Inspektion von fortschrittlichen Halbleiterchips. Sein Hochgeschwindigkeits-Multi-Die-Prober, seine genaue Ausrichtung, seine geräuscharme Architektur und sein Fernkalibriermodul machen es zu einer ausgezeichneten Wahl für Produktionsprozesse.
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