Gebraucht WENTWORTH MP-1000 #9234851 zu verkaufen

WENTWORTH MP-1000 Prober ist ein intelligenter und zuverlässiger automatischer Wafer-Prober integriert mit vollautomatischer Prozesssteuerung sowie Echtzeit-Prozessüberwachung. Diese umfassende Ausrüstung ermöglicht eine hochgenaue Sondierung von Halbleiterscheiben und Matrizen mit minimaler Variation zwischen den Sondierungsergebnissen, die von einer einzigen Probe initiiert werden. Das System verfügt über eine vollautomatische Arbeitskammer, die Änderungen in Produktdaten unterbringen kann, wodurch die Möglichkeit von manuellen Fehlern reduziert wird. Darüber hinaus wird der Arbeitsbereich der Kammer durch eine maßgeschneiderte Haube geschützt, um eine ergonomisch sichere und saubere Arbeitsumgebung zu schaffen. MP-1000 beinhaltet hochmoderne Hard- und Software, die leistungsstarke Ressourcen für Wafer und Stempel/Kontakte Sondierung und Tests zur Verfügung stellt. Die Werkzeugmaschinen sind mit Roboterplatzierung, automatischer Ausrichtung und automatischem Be-/Entladen von Kassetten/Booten integriert. Es verfügt über eine automatisierte Reinraum-Klasse ESD-Safe-Kammereinheit, einschließlich erzwungener Luftstrom-Umgebungskontrolle. Zusätzlich wird die Bedienung durch eine Konsole mit der grafischen Benutzeroberfläche erleichtert, die die Steuerung der Sonde, die grafische Darstellung des Waferdiagramms und der Prozess-/Debugging-Daten sowie zwei Monitor-Videoanzeigen ermöglicht. Der Prober ist mit Wafer-Hauptsonden und Prüfkopfmodul zur individuellen Wafer-Kontaktprüfung ausgestattet. Die verwendeten Sonden sind EP‐10, EP‐15, HEPC‐15 und Z-Achse mit Drop/Bounce-Test und Membrantest. Die Sonden haben Geräusche, Drift und eine gute Wiederholbarkeit. Der Wafer wird automatisch mit einer Präzisionsstift-Ausrichtung ausgerichtet und dann beim Einlegen in den Prober elektronisch identifiziert. Zusätzliche Merkmale wie positionsempfindliche Detektoren (PSD) und optische Positionierung von Sonden sorgen für eine genaue Platzierung der Sonden auf dem Wafer. Der Prober ist in der Lage, Speichergeräte, Logik- und Mixed-Signal-Produkte zu testen und gleichzeitig genaue und zuverlässige Ergebnisse zu liefern. Die umfassende Komplettlösung umfasst integrierte Software mit speziellen Funktionen wie geschlossene Wafer-Move-Funktionen, Nullen auf Substrat pro Gerät, variable Verstärkungsschaltung, Kontaktwiderstände und Chip-Pin-Map. Es ist eine hochgenaue und vielseitige Testmaschine, die dazu beiträgt, zuverlässige Produkte mit reduzierten Umdrehungszeiten bereitzustellen.