Gebraucht ABT EM-0028 #9203988 zu verkaufen

ID: 9203988
Transmission electron microscope (TEM).
ABT EM-0028 Rasterelektronenmikroskop ist ein vakuumbasiertes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine Subnanometer-Auflösungsbildgebung ermöglicht. Es ist für eine Vielzahl von Anwendungen konzipiert, darunter materialwissenschaftliche Studien, Halbleitergeräteanalyse, biologische Wissenschaften, Nanomaterialien und forensische Wissenschaft. Die Elektronenoptik von EM-0028 wurde speziell entwickelt, um eine überlegene Strahlleistung zu bieten und seine bildgebenden Fähigkeiten zu maximieren. Darüber hinaus ist das System auch in der Lage, qualitativ hochwertige Röntgenspektren sowohl im rückgestreuten Elektronen- (BSE) als auch im sekundären Elektronen- (SE) Modus zu erzeugen. Das Gerät verfügt auch über eine breite Palette von Strahlenergieeinstellungen mit einem direkten Detektionsdetektor (EDS). Dies ermöglicht eine qualitativ hochwertige, geräuscharme Bildgebung bei höheren Vergrößerungen. ABT EM-0028 verwendet ein fortschrittliches Säulendesign, das für den Ultrahochvakuumbetrieb optimiert wurde. Dies ermöglicht die Verwendung von beschichtungsfreien Probenstufen zur hochauflösenden Bildgebung und Analyse von nichtleitenden Materialien. Darüber hinaus umfasst die Maschine eine 3-Achsen-Stufe, die eine höhere Positions- und Drehgenauigkeit ermöglicht. Dies ermöglicht die genaue Identifizierung und Analyse von Merkmalen auf beschichteten und nicht beschichteten Oberflächen. EM-0028 ist mit einer ultrahellen Kaltkathoden-Elektronenquelle ausgestattet, die eine verbesserte Auflösung und reduzierte Strahlstromdichten ermöglicht. Das Werkzeug ist auch in der Lage, optimierte Spektren bei jeder gewünschten Vergrößerung zu erzeugen. Darüber hinaus ist das Asset mit einem leistungsstarken Maschinensteuerungssoftware-Paket ausgestattet, mit dem der Benutzer Bilder manipulieren und in Echtzeit analysieren kann. Die mit dem Modell ausgestattete Software-Suite umfasst außerdem eine Reihe grafischer Benutzeroberflächen (GUIs), die die Steuerung und Bedienung der Geräte erleichtern. Kurz gesagt, ABT EM-0028 Scanning Electron Microscope ist ein leistungsfähiges SEM-System, das in der Lage ist, atemberaubend detaillierte Bilder in Sub-Nanometer-Auflösung zu erzeugen. Das Gerät bietet Anwendern eine hervorragende Leistung und eine hochflexible Bedienung bei einer Vielzahl von Vergrößerungen. Die gut gestaltete Optik, das Ultrahochvakuumwerkzeug, die Elektronenquelle der Kaltkathode und die leistungsstarke Software zur Maschinensteuerung machen die Maschine zu einem idealen Instrument für verschiedene bildgebende und analytische Zwecke.
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