Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS Opal 7830 #9124324 zu verkaufen

AMAT AMAT/APPLIED MATERIALS Opal 7830 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein Hochleistungs-Bildgebungs- und Analysewerkzeug für die Beobachtung, Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Probentypen, einschließlich Halbleiter, biomedizinische, Materialien und industrielle Proben. Dieses Instrument ist eine ideale Wahl für komplexe Fehleranalysen, Materialforschung und Mikroskopieanwendungen. Es verfügt über einen Extended Low Vacuum (ELV) Mode, der die Abbildung von Proben in nicht evakuierten Atmosphären wie Umgebungsluft oder gasförmigen Proben ermöglicht. Dieses Elektronenmikroskop weist einen automatisierten Sekundärelektronenbilddetektor (SEI) zur Erfassung hochauflösender Bilder mit möglichst hoher Geschwindigkeit auf. Weitere erweiterte Bildgebungs- und Analysefunktionen umfassen die automatisierte Abbildung der räumlichen Auflösung, die spektrale Bildgebung und die Signalverarbeitung. AMAT Opal 7830 Scanning Electron Microscope ist in der Lage, eine breite Palette von Signaltypen zu sammeln, darunter rückgestreute Elektronen (BSE), Sekundärelektronen (SE), Schlieren, Kathodolumineszenz (CL) und energiedispersive Spektroskopie (EDS DS). Das Gerät enthält auch Dual-Detektoren, die eine gleichzeitige Bildgebung und Merkmalsmessung ermöglichen. Dieses leistungsstarke Elektronenmikroskop hat eine maximale Auflösung von 15 nm und ermöglicht eine genaue Abbildung im Nanoskalibereich. Mit dem ELV-Modus kann dieses Modell großflächige Bilder von Objekten ohne Evakuierung aufnehmen. Darüber hinaus bietet APPLIED MATERIALS Opal 7830 eine Dualstrahl-Bildverarbeitungsanlage, mit der der Benutzer einen fokussierten Elektronenstrahl über die gesamte Probenoberfläche bewegen kann. Dies ermöglicht eine hochempfindliche Bildgebung und enthüllt Details mit einem niedrigen Signal-Rausch-Verhältnis (S/N). Das Vibrationsgeräuschminderungssystem sorgt für geräuscharme Bildgebung, so dass die Probe in hoher Auflösung untersucht werden kann, ohne die Bildqualität zu beeinträchtigen. Das SEM ist auch mit einer Vielzahl von Automatisierungsfunktionen ausgestattet, einschließlich eines automatisierten Fokuskorrektors, einer optischen Ausrichteinheit und einer automatisierten Bühnensteuerung. Diese Funktionen ermöglichen es dem Benutzer, die Eigenschaften der mikroskopischen Probe, wie Größe und Lage der Funktionen, genau zu steuern. Darüber hinaus verfügt diese Maschine über ein integriertes Softwarepaket, das die Auswertung der aus dem SEM gewonnenen Daten ermöglicht. Insgesamt ist APPLIED MATERIALS Opal 7830 Scanning Electron Microscope eine ideale Wahl für komplexe Fehleranalysen, Materialforschung und Mikroskopieanwendungen. Die leistungsstarke 5-Achsen-motorisierte Probenstufe, die Niedervakuum-Bildgebungsfunktionen und die Dual-Beam-Bildgebung machen es zu einem schnellen, aber präzisen Bildgebungswerkzeug.