Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS Opal 7830 #9238602 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS Opal 7830 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein leistungsstarkes und vielseitiges analytisches Werkzeug, das zur Bereitstellung detaillierter, dreidimensionaler Bilder von internen Strukturen aus einer Vielzahl von Materialien verwendet wird. Es bietet unübertroffene Funktionen zur Analyse und Charakterisierung einer Vielzahl von Materialien und Prozessen. Das SEM beinhaltet eine integrierte monochromierte Feldemissionselektronenkanone (FEG), die hohe Strahlströme und minimale thermische Spreizung liefert und die höchste Auflösung bei der niedrigsten Elektronenstrahlbeschleunigungsspannung ermöglicht. Mit seinen variablen Spotgrößen bietet der 7830 SEM variable Tiefenschärfe, variable Auflösung und variable Probenoberflächendeckung. Es kommt auch mit einem Stigmator ausgestattet, um Strahlkondensatoraberration zu korrigieren, was es von vergleichbaren SEM-Systemen unterscheidet. Das Gerät ist mit einer integrierten Elektronenkanone ausgestattet, die eine hohe Helligkeit und einen winkelstabilen Strahl bietet. Dies ermöglicht eine außergewöhnlich hohe Bildauflösung und durch die Nutzung einer langen Lebensdauer der EIG haben Benutzer die Möglichkeit, 99 Sekunden lange Scanzeiten zur Erzeugung gleichzeitiger ESD-Signale aufzuzeichnen. Mit einem speziell entwickelten Doppeloptik-Design erzeugt der 7830 ein Bild mit viel höherem Kontrast und Klarheit zu herkömmlichen Rasterelektronenmikroskopen (SEM). Das 7830 SEM hat die Fähigkeit, eine wesentlich höhere räumliche Auflösung von 0,5 nm bei 6,0 kV zu erreichen, was es ideal für Anwendungen macht, in denen Ultra-High-Performance gewünscht wird. Mit seinem automatisierten Probentransfersystem haben Anwender die Möglichkeit, Proben schnell zu wechseln und den Workflow zu optimieren. Der 7830 hat eine lange Lebensdauer aufgrund seiner fortschrittlichen EIG-Technologie, und seine motorisierte Steuerungsreichweite für die verschiedenen Funktionen des Geräts macht es einfach und einfach zu bedienen. Die 7830 kann auch zur Durchführung von Verunreinigungsanalysen zum Nachweis von Verunreinigungen in Halbleitermaterialien verwendet werden. Es hat die Fähigkeit, Partikel und Defekte bis zu einer Größe von 0,1 µm zu erkennen und kann sowohl die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) als auch das analytische Scannen (AS) durchführen. Der 7830 ist mit einer Reihe von Werkzeugen ausgestattet, um fortschrittliche Forschung und Technik für eine Vielzahl von Branchen zu unterstützen. Diese Tools umfassen ein fortschrittliches Bilderfassungssystem, Echtzeitbildanalyse, 3D-Bildrekonstruktion, Bildquantifizierung und automatisierte Berichtsgenerierung. AMAT Opal 7830 SEM ist eine ideale Wahl für diejenigen, die ein Top-SEM mit maximaler Vielseitigkeit und außergewöhnlicher Leistung suchen. Seine unübertroffene Flexibilität und technischen Fähigkeiten machen es zu einer idealen Wahl für eine breite Palette von Materialien Forschung und Analyse Anwendungen.