Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS OPAL 7830I #9226431 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS OPAL 7830I ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur Präzisionsbildgebung und -analyse in der Halbleiterindustrie. Dieses Gerät bietet Subnanometer-Auflösung (mit < 4 nm enger Größe) und erhöhte Empfindlichkeit für detaillierte Beobachtung, die herkömmliche Scantechnologien erheblich übertrifft. Das System verfügt über eine analytische Fähigkeit, mit eingebauten fokussierten Ionenstrahl (FIB) und Elektronenstrahl-Lithographie (EBL) Fähigkeiten. Es bietet sowohl nanoskalige Probenvorbereitung als auch visuelle Analyse von Objekten, die in dichten Proben vergraben sind. Dieses Gerät verfügt über eine breite Palette von Funktionen, darunter eine hochpräzise 3-Achsen-mechanische Bühne, einen digitalen Detektor mit großem Dynamikbereich und hochmoderne elektronenoptische Systeme. Diese hochmoderne Maschine ermöglicht die Feinabstimmung sowohl der Strahlenergie als auch der Spotgröße, um die spezifischen Anforderungen eines Kunden an die Bildgebung zu erfüllen. AMAT OPAL 7830I verfügt über eine hochauflösende Feldemissionskanone (FEG), die einen stabilen Elektronenstrahl mit verbesserter Energieauflösung und Spotgröße liefert. Es verfügt über eine eingebaute Energiefiltersteuerung, die bei der Auswahl der richtigen Energie für die Bildgebung hilft. Die Elektronenoptiken haben einstellbaren Astigmatismus und sphärische Aberration für Feinabstimmung. Das elektronenoptische Werkzeug verfügt über ein großes Okular und einstellbare Kontraststeuerungen, um die Bildqualität zu maximieren. Das Asset verfügt über integrierte Hardware-, Software- und Firmware-Komponenten, die alle Stabilität und optimale Leistung ermöglichen. Das Modell verfügt über eine schnelle hochpräzise Probenstufe und eine digitale CCD-Kamera, die eine genaue Beobachtung auf Sub-Nanometer-Ebene ermöglicht. Darüber hinaus verfügt die FIB über einen speziell entwickelten Wellengenerator, der eine In-situ-Abscheidung und -Ätzung ermöglicht. Das CCD-Detektor-Setup mit breitem Dynamikbereich bietet unübertroffene Empfindlichkeit und Kontrast. Auf diese Weise wird die Bildgebung gegenüber früheren Abbildungssystemen verbessert. APPLIED MATERIALS 7830I lässt sich einfach mit CAD-Systemen und automatisiertem Roboterprobenhandling kombinieren, was einen hohen Durchsatz und wiederholbare Ergebnisse ermöglicht. Das Gerät verfügt über automatisierte Funktionen, die die Rüstzeit verkürzen und eine verbesserte Genauigkeit bieten. Die Scripting-Technologie an Bord ermöglicht es Kunden, ihre Tests anzupassen und die Geschwindigkeit der Arbeitsprozesse zu erhöhen. Nicht zuletzt ermöglicht die Software die Integration in andere bildgebende Anwendungen wie Elektronen-Backscatter-Beugung (EBSD) und energiedispersive Röntgenstrahlung (EDS). Diese Funktionen ermöglichen es APPLIED MATERIALS OPAL 7830I, hochauflösende Bildgebungsfunktionen zu liefern und gleichzeitig die Zuverlässigkeit und hohe Präzision zu erhalten, die die Halbleiterindustrie benötigt. Es ist das fortschrittlichste Rasterelektronenmikroskop auf dem heutigen Markt und bietet überlegene Bildgebung und Analyse für die anspruchsvollsten Industrieprojekte.