Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS OPAL 7830I #9256868 zu verkaufen

AMAT / APPLIED MATERIALS OPAL 7830I
ID: 9256868
Scanning Electron Microscope (SEM) Includes: Accessories Spare parts Manuals CE Marked.
AMAT/APPLIED MATERIALS Opal 7830i Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein leistungsstarkes, hochauflösendes Forschungswerkzeug, das verwendet wird, um Einblicke in die Mikrostruktur und Zusammensetzung von Materialien zu erhalten. AMAT Opal 7830i ist ein Feld-Emission-SEM, was bedeutet, dass es einen kalten Feldemitter als Elektronenquelle aufweist. Diese Art von Emitter hat eine höhere Helligkeit und Richtwirkung als Röntgenquellen, was bedeutet, dass APPLIED MATERIALS 7830I extrem hochauflösende Bilder erzeugen kann. Das SEM ist mit einer Reihe von Detektoren ausgestattet, die es ermöglichen, Rückstreuelektronen, Sekundärelektronen zu detektieren, Röntgenenergie-dispersive Röntgenspektroskopie (EDX) und Wellenlängen-dispersive Röntgenspektroskopie (WDS) Daten. Die Maschine nutzt eine Benutzeroberfläche mit Touchscreen, die einfach zu bedienen und hochgradig anpassbar ist und über eine Reihe automatisierter Prozesse verfügt, um das experimentelle Setup und die Analyse zu optimieren. Mit dem automatisierten Bildgebungssystem können beispielsweise komplexe Probenanalysen schnell und präzise abgeschlossen werden, indem die Positionierung der Probe im Bildfeld, das Laden von Samplern und die Bilderfassung automatisiert werden. ANGEWANDTE MATERIALIEN Opal 7830i verfügt auch über eine Vakuumkammer mit einem automatisierten Turbopumpsystem, um die Zeit zur Stabilisierung des gewünschten Drucks zu minimieren. Darüber hinaus ermöglicht die hohe Säulenstabilität und Stufengenauigkeit die Auflösung der Probenoberfläche sowohl in kernbildgebenden als auch in hochauflösenden Topographiekarten. Opal 7830i ist mit einer Reihe von zusätzlichen Funktionen ausgestattet, um eine qualitativ hochwertige Bildgebung und Charakterisierung zu gewährleisten. Die automatisierten EDX- und WDS-Spektrometriesysteme machen es einfach, die elementare Zusammensetzung zu analysieren, während die automatisierte Energielückenkorrektur und Phasenkompensationstechniken jede Instabilität aufgrund von Energie oder Probendrift beseitigen. Schließlich erlaubt der Edge Detection Algorithmus feine Details innerhalb eines Bildes zu offenbaren. Insgesamt ist AMAT 7830I Scanning Electron Microscope ein leistungsstarkes und vielseitiges Werkzeug, das eine Reihe von nützlichen Funktionen und hochauflösenden Bildgebungsfunktionen bietet. Die breite Palette automatisierter Prozesse und die intuitive Touchscreen-Benutzeroberfläche machen das SEM ideal für Wissenschaftler und Forscher, die hochauflösende Bilder und sogar elementare Daten aus ihren Proben sammeln müssen.
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