Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS / OPAL 7830Si #9245098 zu verkaufen

AMAT / APPLIED MATERIALS / OPAL 7830Si
ID: 9245098
Scanning Electron Microscope (SEM), parts system.
AMAT/APPLIED MATERIALS/OPAL 7830Si scanning electron microscope (SEM) ist ein hochauflösendes bildgebendes und analytisches Gerät, das in der Lage ist, kontrastreiche Bilder von Proben bis zu einigen Nanometern Größe zu erzeugen. Das SEM ist das leistungsfähigste Werkzeug, um die mikrostrukturellen Details einer Probe zu analysieren und ihre Oberflächenmerkmale abzubilden. AMAT 7830Si nutzt eine beschleunigende Spannung von 0-30 kV und hat eine Stromauflösung von 10 pA für überlegene Auflösung und Farbe. Es besteht aus zwei Hauptkomponenten, der digitalen Hauptbildeinheit und dem Rasterelektronenmikroskop selbst. Die digitale Bildeinheit enthält die Software, die verschiedene Anzeige- und Analysefunktionen bereitstellt. Dazu gehören interaktive Messungen, hochauflösende digitale Bildgebung, detaillierte statistische Analyse, digitale Bildgebung und Filmaufzeichnung. Das SEM ist mit einer hochauflösenden Feldemissionsquelle ausgestattet, die eine hohe Vergrößerung und überlegene Auflösungsfunktionen bietet. Die Proben werden innerhalb der großen Kammer des SEM positioniert und dann einem Elektronenstrahl ausgesetzt, der in einem Rastermuster über seine Oberfläche abtastet. Die gestreuten Elektronen sammeln sich dann auf einem Detektor und liefern Informationen über die Oberflächenmerkmale und die Struktur der Probe. OPAL 7830Si ist in der Lage, eine Reihe von bildgebenden Modi und analytischen Techniken, einschließlich sekundärer Elektronenbildgebung, rückgestreuter Elektronenbildgebung, Dunkelfeldbildgebung und Röntgenmikroanalyse. Das SEM umfasst auch ein EDX-System zur Elementaranalyse, bestehend aus einem Detektor und einem Röntgengengenerator. Die Einheit ist auch in der Lage, optische Emissionen wie Kathodolumineszenz und Photolumineszenz zu detektieren und zu analysieren. Das SEM ist eine anspruchsvolle Maschine, ideal für Anwendungen wie Materialwissenschaft, Halbleiter- und Metallurgieanalyse, Forensik und Mikroelektronik. 7830Si ist äußerst zuverlässig und benutzerfreundlich und bietet ein ergonomisches Design, eine intuitive Benutzeroberfläche und eine Reihe bildverbessernder Funktionen wie Kontrastvergrößerung, digitale Filter und Rauschunterdrückung. Angewandte Materialien 7830Si Rasterelektronenmikroskop ist ein außergewöhnliches Werkzeug für hochauflösende bildgebende und analytische Techniken und bietet eine vielseitige Lösung für zahlreiche Anwendungen.
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