Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS / OPAL 7830Si #9245099 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS/OPAL 7830Si Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein leistungsstarkes Werkzeug zur Beobachtung von Oberflächen und anderen kleinen Strukturen im mikroskopischen Maßstab. Das SEM verwendet Elektronen als Beleuchtungsquelle, so dass der Benutzer Objekte auf einer Vielzahl von Skalen beobachten kann, von Nanometern bis Mikrometern. AMAT 7830Si besteht aus vielen Komponenten, die alle zusammenarbeiten, um ein hochauflösendes, rauscharmes Bildgebungssystem bereitzustellen. Das Gerät bietet dem Anwender eine robuste motorunterstützte Stufensteuerung und eine regelbare Kammer zur Steuerung des Vakuumniveaus in der Analysekammer. Dies stellt sicher, dass Benutzer die zuverlässigsten und genauesten Ergebnisse und Bilder erhalten. OPAL 7830Si beinhaltet eine Elektronenpistole mit einem variablen Fleck und einer einstellbaren Strahlgröße, die eine breite Palette von Probengrößen ermöglicht. Äußerlich hat die Pistole ein vakuumdichtes Rohr, das ein Vakuumniveau so niedrig wie 10-2 Torr halten kann. Dieses Rohr ist mit einer Probenkammer verbunden, um Elektronen effizient von der Pistole zur Probe zu transportieren. Das SEM verwendet einen fortgeschrittenen Sekundärelektronendetektor (SED), um Elektronen zu detektieren, die von der Probenoberfläche gestreut oder emittiert wurden. Dieser Detektor ist hochempfindlich und kann Elektronen mit einem Energieniveau von bis zu 0,25 eV detektieren. Dadurch wird sichergestellt, dass Benutzer sehr detaillierte Bilder von kleinen Objekten erhalten. Zusätzlich verwendet das SEM einen rückgestreuten Elektronendetektor, um Bilder zu erhalten, die kompositorische Informationen widerspiegeln. Dieses SEM enthält auch verschiedene Softwarepakete zur Unterstützung bei der Datenanalyse und Bildgebung. Diese Pakete umfassen eine automatische Ausrichtungsfunktion, Partikelanalyse, Bildanalyse und Berichtserstellung. Diese Funktionen ermöglichen es dem Benutzer, eine breite Palette von Anwendungen zu studieren, wie digitale Bildwiederherstellung und -verbesserung, Partikelanalyse und Nanoengineering. 7830Si SEM bietet Anwendern eine unkomplizierte Probenvorbereitung und -analyse. Diese Kombination aus Eigenschaften und Funktionen macht es ideal für jedes Labor oder industrielle Umgebung. Die hochauflösende Bildgebung und effiziente Analyse machen es zu einem wertvollen Werkzeug für jeden SEM-Anwender.