Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS / OPAL 7830Si #9302073 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS/OPAL 7830Si ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von Zwecken verwendet wird. Es ist ein hochauflösendes Hochdurchsatzwerkzeug, das zur Bildgebung und Analyse in materialwissenschaftlichen, biologischen und physikalischen Forschungsanwendungen verwendet wird. AMAT 7830Si bietet eine Reihe von Funktionen, die es Anwendern ermöglichen, Proben in hoher Auflösung zu beobachten und zu analysieren, bis hin zu Sub-Mikron-Werten. Es verfügt über eine kleine Spotgröße und einen einstellbaren Arbeitsabstand sowie einen hohen Vergrößerungsbereich von bis zu 230,000X. Das Instrument ist auch mit einem sekundären Elektronendetektor ausgestattet, der eine ausgezeichnete Bildauflösung und einen hervorragenden Kontrast bietet. Darüber hinaus verfügt OPAL 7830Si über eine Vielzahl von Automatisierungsfunktionen wie automatische Fokussierung, automatische Stigmation und eine Bühnenausrichtungsfunktion, wodurch Benutzer Zeit sparen und ihre Analyseergebnisse verbessern können. Es umfasst auch eine Kippstufe zur horizontalen oder vertikalen Abtastung und eine Vakuumkammer, mit der Proben in ihrer nativen Umgebung untersucht werden können. Darüber hinaus bietet das Gerät eine hochempfindliche Digitalkamera zur Bildspeicherung und -archivierung sowie ein automatisiertes System zur Kalibrierung der Elektronenoptik des SEM und Analyse des bildgebenden Systems. Es verfügt auch über eine grafische Benutzeroberfläche für einfache Bedienung, sowie eine breite Palette von Software für Datenanalyse, grafische Darstellung und 3D-Rekonstruktion. Insgesamt ist APPLIED MATERIALS 7830Si eine ausgezeichnete Wahl, wenn Genauigkeit, Wiederholbarkeit und hohe Auflösung unerlässlich sind. Es kombiniert eine breite Palette von Funktionen und außergewöhnliche Leistung, so dass Benutzer eine Vielzahl von Aufgaben mit präzisen, zuverlässigen Ergebnissen durchführen können. Das Gerät eignet sich hervorragend zur Bildgebung und Analyse unterschiedlichster Proben sowie zur Überwachung verschiedener Prozesse und Defekte.