Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS / OPAL 7830Si #9314094 zu verkaufen

AMAT / APPLIED MATERIALS / OPAL 7830Si
ID: 9314094
Scanning Electron Microscopes (SEM).
AMAT/APPLIED MATERIALS/OPAL 7830Si ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das der Forschungsgemeinschaft mehrere Vorteile bietet. Es ist ein leistungsstarkes Instrument, das es Forschern ermöglicht, Objekte detailliert zu analysieren, was es zu einem nützlichen Werkzeug sowohl für industrielle als auch für akademische Forscher macht. AMAT 7830Si kommt mit einer Thermoemissionsfeldemissionspistole mit einer vertikal einstellbaren Oberstufe, die es dem Forscher ermöglicht, Proben schnell zu scannen und Daten zu erfassen. Es ist mit einem Hochleistungs-Primärscanobjektiv ausgestattet, das Proben bis zu 10.000x vergrößern kann. Mit seiner fortschrittlichen Elektronik ist OPAL 7830Si in der Lage, ein hervorragendes Signal-Rausch-Verhältnis und eine hervorragende Auflösung zu erzielen. Darüber hinaus bietet das SEM sowohl Hochgeschwindigkeits- als auch Hochauflösungsbilder und kann auch mit einem Sekundärelektronendetektor für die Oberflächentopologie und einem rückgestreuten Elektronendetektor für ein höheres Signal-Rausch-Verhältnis ausgestattet werden. Das einzigartige Design des SEM ermöglicht noch höhere Vergrößerungen bis zu 100.000x. Es ist mit Hochgeschwindigkeits-Datenerfassungs- und EDS/WDX-Detektionssystemen ausgestattet, die ausgezeichnete Tiefenschärfe, geringe Aberration und/oder eine Reihe von optischem Zubehör für spezialisierte Anwendungen bieten. Die Analyse umfasst auch ein Bildanalysesystem, mit dem Bilder auf einer höheren Detailebene verglichen, kontrastiert und analysiert werden können. Einer seiner Hauptvorteile ist seine Benutzerfreundlichkeit. 7830Si kann einfach mit minimalem Training und technischem Support bedient werden. Die benutzerfreundliche Oberfläche erleichtert den Zugriff und die Manipulation der Forschungsdaten mit minimalem Aufwand. Die schnelle und intuitive Navigationsbedienung des Mikroskops hilft bei der komfortablen Probenanalyse und die intuitiven Softwaresteuerungen helfen Forschern, Bildgebungsparameter schnell zu manipulieren. Insgesamt ist APPLIED MATERIALS 7830Si ein leistungsstarkes, vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das Forschern hervorragende Genauigkeit, Auflösung und Datenerfassung bietet. Seine Benutzerfreundlichkeit, leistungsstarke Funktionen und Vorteile machen es zu einem großartigen Werkzeug für verschiedene Arten von Forschung in der Materialwissenschaft, Ingenieurwissenschaft und Biologie.
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