Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS Verity #9038493 zu verkaufen

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ID: 9038493
Scanning electron microscope Largest load ampere rating: 8 A Full load current: 10 A Interrupt current: 10,000 Amps 120/208 VAC, 3 Ph, 50/60 Hz, 5 wires 2005 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS Verity ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur Untersuchung der Struktur und Zusammensetzung vieler verschiedener Proben. Sie eignet sich besonders für die Abbildung von nanoskaligen Merkmalen mit einer Auflösung von bis zu 0,5 nm. Das Mikroskop basiert auf einer Elektronenstrahlsäule, bestehend aus mehreren Komponenten, darunter einer Elektronenkanone, Elektronenlinsen und einem Sekundärelektronendetektor. Die hochmoderne Elektronenkanone besteht aus einer erhitzten Kathodenspitze, die Elektronen emittiert, die durch eine große elektrostatische Linse und eine kleine Aufzeichnungslinse fokussiert wird. Diese Linsen können eingestellt werden, um einen Elektronenstrahl mit den gewünschten Eigenschaften für die Bildgebung zu erzeugen. Die Säule ist mit einer Vielzahl von Abbildungsmodi wie Sekundärelektronen, sekundären Ionen und anderen Abbildungsmodalitäten ausgestattet. Darüber hinaus ist das Mikroskop in der Lage, eine Probe in verschiedenen analytischen Zuständen abzubilden, wie Inertgaszerstäubung, elektronenstrahlinduzierte Abscheidung, Photoemission, elektronenrückgestreute Beugung oder chemische Analyse, die einen verbesserten Bildkontrast und Bildinformationen ermöglicht. Weiterhin ist eine Abbildung unter unterschiedlichen Winkeln mit der Kippstufe möglich. Die Kippstufe ermöglicht unterschiedliche Winkel der eintreffenden Strahlung, was die Analyse dreidimensionaler Strukturen und Oberflächenmorphologien ermöglicht. Der Sekundärelektronendetektor ist eine der wichtigsten Komponenten des Rasterelektronenmikroskops. Es besteht aus vier Detektorsegmenten: dem oberen linken und oberen rechten Detektor zum Detektieren von zurückgestreuten Sekundärelektronen, der unteren Reihe zum Abbilden der Sekundärelektronen und der unteren rechten Reihe zum Detektieren von reflektierten Strahlelektronen. Jedes Segment verfügt über einen eigenen Detektor und Verstärker, die zusammen ein verbessertes Signal-Rausch-Verhältnis und eine verbesserte Auflösung ermöglichen. Sobald ein Bild erhalten ist, ist das Mikroskop in der Lage, die gesammelten Daten weiter zu verarbeiten, um die Qualität des Bildes zu verbessern. Dies kann zusätzliche Rauschfiltertechniken und Bildverbesserungstechniken umfassen, die in der Software des Mikroskops verfügbar sind. Schließlich profitiert AMAT Verity Scanning Electron Microscope von einer USB-kompatiblen Schnittstelle, mit der der Benutzer Daten von und zu Computern und Software übertragen kann. Dies ermöglicht es dem Anwender, die Leistung des Mikroskops mit modernen Rechenplattformen und der Nutzung erweiterter Softwarefunktionen zu nutzen. Dies erhöht die Vielseitigkeit des Mikroskops und die Fähigkeit, mit gesammelten Daten zu interagieren.
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