Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS VeritySEM #9093773 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS VeritySEM ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das fortschrittliche Fähigkeiten kombiniert, um hochauflösende Bildgebung, Materialcharakterisierung und Fail-Analyse der kritischsten Halbleiterbauelementstrukturen zu ermöglichen. Mit seiner fortschrittlichen Elektronenoptik und Ultrahochvakuumtechnologie ermöglicht AMAT VeritySEM die Produktion außergewöhnlicher hochwertiger Bilder für die Materialcharakterisierung und Fehleranalyse. Zur Materialcharakterisierung und Fehleranalyse wurde APPLIED MATERIALS VeritySEM entwickelt, um eine überlegene räumliche Auflösung und Produktivität zu bieten. Es verwendet eine hocheffiziente Elektronensäule mit einer elektrostatischen Elektronenkanone im Linsenfeld, die bei niedrigen Spannungen eine größere Schärfentiefe und eine stabile Abbildung gewährleistet. Die Optik verfügt außerdem über eine fortschrittliche Elektronenoptik und einen Energiefilter, der eine überlegene Strahlkohärenz ermöglicht. Dies macht das Instrument ideal für die Bereitstellung von High-Fidelity, hochauflösende Bildgebung für erweiterte Fehleranalyse und Materialien Charakterisierungen benötigt. VeritySEM kommt auch mit einer Reihe von erweiterten Werkzeugen und Zubehör für erweiterte Analyse ausgestattet. Das Gerät umfasst ein integriertes Formmessmodul für Dimensionsmessungen im Nanometermaßstab, transportable kryogene Stufen für die Ultratieftemperatur-Bildgebung und ein EDS-Modul (Energy Dispersive Spectroscopy). Auf diese Weise kann das System Zusammensetzung und Dicke einzelner Schichten sowie eine Reihe anderer Parameter messen. AMAT/APPLIED MATERIALS VeritySEM bietet auch erweiterte Funktionen für automatisierte Sondierung und Messung. Erweiterte automatisierte Automatisierungswerkzeuge für Wafer und Gehäuse ermöglichen es Benutzern, Fehler innerhalb der Halbleiterbauelemente schnell und genau zu identifizieren. Das Gerät umfasst auch eine automatisierte Wärmebildmaschine, die zur weiteren Optimierung von Fehleranalyseprojekten entwickelt wurde. AMAT VeritySEM verfügt über eine intuitive Benutzeroberfläche, so dass es einfach zu bedienen. Das Tool bietet auch eine Reihe von Datenverwaltungstools zur Überwachung und Verfolgung von Fehleranalyseprojekten. Darüber hinaus bietet das leistungsstarke Softwarepaket automatisierte Bildverarbeitungsalgorithmen für maximale Ergebnisse. Insgesamt ist APPLIED MATERIALS VeritySEM ein leistungsstarkes und fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop für die Materialcharakterisierung und Fehleranalyse. Es kombiniert leistungsstarke Elektronenoptiken, fortschrittliche Bildgebungs- und Analysewerkzeuge und eine umfassende Benutzeroberfläche für eine kostengünstige und optimierte Lösung für die Halbleiterbauelementanalyse. Mit seiner überlegenen Leistung und Präzision bietet VeritySEM eine hervorragende Lösung für hochauflösende Bild- und Fehleranalysen.