Gebraucht AMRAY 1800 #293657237 zu verkaufen

ID: 293657237
Scanning Electron Microscope (SEM).
AMRAY 1800 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die fortschrittliche analytische Bildgebung einer Vielzahl von Materialien von Metallen bis zu Polymerverbundwerkstoffen entwickelt wurde. Unter Verwendung einer einzigartigen elektronenoptischen Säule, 1800 ist in der Lage, überlegene Bildgebung und analytische Leistung. AMRAY 1800 verwendet eine einzigartig entworfene optische Elektronensäule, die in ihrer Kombination aus großem Source-Detektor-Trennabstand, hohen Vergrößerungszielen und optimierten Ablenkspulen neu ist. Diese Kombination ergibt eine dreidimensionale Abbildung mit 0,4 nm Raumauflösung und 15 µm Tiefenschärfe. Darüber hinaus reduziert die breite 1,2 ° -Strahlfläche und das optimierte Differentialpumpen die Probenaufladung und ermöglicht eine ordnungsgemäße Analyse hochgeladener Proben. 1800 enthält ein leistungsstarkes digitales Bildgebungssystem FEI-Eagle, das eine hervorragende Bildauflösung und -geschwindigkeit bietet. Es verfügt über eine automatische Bildnahtfähigkeit, die die Analyse der Probenoberflächenabdeckung und -auflösung für Anwendungen mit hohem Durchsatz verbessert. Weitere Merkmale sind ein hochempfindlicher rückgestreuter Elektronendetektor (BSE), ein Feldemissionssekundärelektronendetektor (SE), ein SE-Array-Detektor zur Abbildung großer Flächen, ein automatisiertes Spotspektroskopiemodul und ein interner Hochvakuum-TEM (HVTEM TEM) und CBED. Für die Analyse kann AMRAY 1800 mit fortschrittlicher automatischer Merkmalserkennungstechnologie konfiguriert werden, um Parameter wie EBSD-kristallographische Orientierung und Korngrößenbestimmung, EDS (Energy Dispersive Spectroscopy) zur elementaren Charakterisierung und Partikelgrößenbestimmung zu analysieren. Darüber hinaus kann das Gerät bei einem Niedervakuumstrahl für Umgebungs-SEM (ESEM) von nassen, gefrorenen oder niedrigleitenden Proben verwendet werden. 1800 kann auch konfiguriert werden, um FIB-SEM (Focus Ion Beam SEM) -Anwendungen zu unterstützen. Die FEI-XFIB-Hardware, die eine Kombination aus einer herkömmlichen SEM-Säule und einer Ionenstrahlsäule ist, kann an AMRAY 1800 gekoppelt und in einer Vielzahl von bildgebenden Anwendungen einschließlich Querschnitt, Ätzen und ortsspezifischem Targeting eingesetzt werden. Insgesamt ist 1800 ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das Anwendern optimale Leistung für die bildgebende und analytische Charakterisierung einer Vielzahl von Materialien bietet. Von Basic Imaging bis hin zu fortschrittlichen ESEM-, EBSD- und FIB-SEM-Anwendungen bietet AMRAY 1800 die Vielseitigkeit und Leistungsfähigkeit, die Forscher suchen.
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