Gebraucht AMRAY 1830 #293657412 zu verkaufen

Das Rasterelektronenmikroskop AMRAY 1830 (SEM) ist ein leistungsstarkes Werkzeug zur hochauflösenden Bildgebung und Analyse von nanoskaligen Proben. Es bietet ein großes Sichtfeld und eine maximale Auflösung von 1,8 nm. Dieses Mikroskop wird für eine Vielzahl von Anwendungen verwendet, einschließlich Oberflächenbildgebung, Probentiefenprofilierung, Partikel-/Oberflächenanalyse und chemische Analyse. 1830 ist mit einem hochauflösenden Sekundärelektronendetektor ausgestattet, der im linearen Modus eine maximale räumliche Auflösung von 1,8 nm im Kreis und 0,9 nm ergibt. Es verfügt auch über ein großes Sichtfeld von bis zu 500mm, so dass es ideal für die Untersuchung großer Probenflächen. Das SEM ist auch in der Lage, eine Vielzahl von Probentypen abzubilden, darunter Einkristalle, Halbleiter, dielektrische Materialien, Isolatoren, Kunststoffe und Metalle. AMRAY 1830 nutzt die digitale Bildverarbeitung, um das der SEM-Bildgebung innewohnende Rauschen zu reduzieren, was eine bessere Auflösung und einen besseren Kontrast im Vergleich zu anderen Elektronenbildgeräten ermöglicht. Darüber hinaus ist das Mikroskop für eine hohe Stabilität ausgelegt, mit einem computergesteuerten Steuersystem, das die manuelle Scanausrichtung überflüssig macht. 1830 ist mit einer Vielzahl von Abbildungsmodi ausgestattet, einschließlich Sekundärelektronen (SE), Rückstreuelektronen (BSE) und differentiellen Sekundärelektronen (DSE). Der SE-Modus wird für Oberflächen- und Probentopographieuntersuchungen verwendet, während der BSE-Modus verwendet werden kann, um verschiedene Materialien in einer Probe zu identifizieren. Der DSE-Modus ermöglicht die Oberflächenkontrast-Bildgebung, um einen besseren Kontrast auf Oberflächen mit chemischen oder topographischen Variationen zu erzeugen. Die AMRAY 1830 ist auch mit einem Röntgendetektor für die elektronische Röntgenanalyse ausgestattet, einschließlich Elementaranalyse, Phasenanalyse und chemischer Bindungsanalyse. Der Röntgendetektor kann verwendet werden, um die Zusammensetzung einer Probe zu überprüfen und zu identifizieren, was eine genauere Analyse der Probe ermöglicht. Insgesamt ist 1830 ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das hochauflösende Bildgebungs- und Probenanalysen sowie Phasen- und Elementaranalysen bietet. Mit seinem großen Sichtfeld, seiner hohen Auflösung und seinem breiten Anwendungsspektrum ermöglicht es eine Vielzahl von Forschungs- und Studienanwendungen im Bereich nanoskaliger Materialien.