Gebraucht AMRAY 3200C #293659826 zu verkaufen
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ID: 293659826
Variable Pressure Scanning Electron Microscopes (VP-SEM)
Large chamber: Up to 8" sample
Low vacuum chamber pressure: Up to 4 Torr (25 mTorr increment)
Image capture: 1280 x 960 4Pi, 1200 x 960
Everhart-Thorley secondary electron detector
Robinson backscatter detector (Retractable)
Nitrogen or Argon gas for venting the chamber
Dry/Filtered 60 psi air to power vacuum valve
Energy Dispersive X-Ray Spectrometer (EDS):
4Pi Analysis
EDAX EDS Detector with liquid nitrogen dewar
(2) Roughing pumps:
EDWARDS RV8 Rotary vane vacuum pump
ALCATEL / ADIXEN Pascal 2010 SDX Rotary vane vacuum pump
Resolution:
High vacuum 4 nm at 30 kV
Low vacuum 6 nm at 30 kV
Travel stage:
X and Y Axis: Motorized 100 mm, joystick control
Z-Axis: Manual 50 mm, 360° rotation and tilt -10°C/+90°C
Operating system: Windows 7 Pro
PC
Power supply: 120 VAC.
AMRAY 3200C ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit modernen Funktionen, die es zu einem idealen Werkzeug für Forschung und Entwicklung machen. Es ist in der Lage, hochauflösende, analytische Bilder mit hoher Vergrößerung und eine dreidimensionale Bildanalyse einer Vielzahl von Probentypen zu erhalten. Das SEM ist für eine Reihe wissenschaftlicher und industrieller Anwendungen konzipiert, die von der Halbleiterfehleranalyse über die keramische Charakterisierung bis zur wässrigen Korrosion reichen. Zu den Hauptkomponenten von 3200C gehören die Probenvorbereitungskammer, die Hauptkammer, das Portal, die Detektoren und das Bildverarbeitungssystem. Die Hauptkammer beherbergt die Elektronenoptik zur Erzeugung des Strahls, die Detektoranordnung zum Sammeln von Bildern und die Stufe zur Probeninszenierung und -ausrichtung. Die Gantry enthält das Linsensystem und mechanische Komponenten zur genauen Fokussierung und Ansteuerung des Elektronenstrahls. Die Detektoranordnung liefert schnelle Bilderfassungszeit und hochauflösende Ergebnisse. AMRAY 3200C umfasst eine breite Palette von Funktionen wie variabler Strahlstrom, wählbare Spannung, digitale Neigungssteuerung, Präzisionspositionierung und mehrere Bilderfassungsmodi. Der Strahlstrom ist von 1mA bis 40mA einstellbar, während die Spannung bis zu 30 kV einstellbar ist. Die Einstellungen der Neigungssteuerung sind computergesteuert und ermöglichen eine präzise Ausrichtung für Fokus und Vergrößerung. Die präzise Positionierung der Bühne ermöglicht wiederholbare Ergebnisse. Die verschiedenen Bildaufnahmemodi umfassen Standard, Hochauflösung und Ultra-Hochauflösung. 3200C umfasst auch fortgeschrittene Bildgebungstechniken wie Back Scattered Electron (BSE) -Bildgebung, die eine dreidimensionale Oberflächenbildgebung ermöglicht. Die BSE-Bildgebungstechnik nutzt die größere Schärfentiefe, um qualitativ hochwertige Bilder mit hervorragendem Kontrast für Materialien mit einer breiten Palette von Eigenschaften zu erstellen. Das Bildverarbeitungssystem umfasst einen automatisierten Merkmalserkennungsalgorithmus, der eine automatisierte Musteranalyse von Materialien ermöglicht. AMRAY 3200C ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop der nächsten Generation. Es bietet eine breite Palette von Funktionen für präzise Probenbildgebung bei hoher Auflösung und Vergrößerung, fortschrittliche Bildgebungstechniken und automatisierte Bildanalyse. Mit einem umfassenden Leistungsspektrum ist 3200C ideal für eine Vielzahl von Forschungs- und Entwicklungsanwendungen.
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