Gebraucht CAMBRIDGE EBMF-6 #145926 zu verkaufen

CAMBRIDGE EBMF-6 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein Mittelspannungs-SEM, das in der Lage ist, eine Vielzahl von Probenmaterialien in akademischen und industriellen Umgebungen zu analysieren. Dieses SEM ist mit einer Gaseinspritzeinrichtung mit variablem Druck ausgestattet, mit der Proben unter niedrigem Vakuum und sogar unter Umgebungsbedingungen analysiert werden können. EBMF-6 ist in der Lage, Strukturen bis zur Nanometerskala mit Auflösungen von 1 nm für Sekundärelektronen und 3 nm für rückgestreute Elektronen abzubilden. Es verfügt über eine Empfindlichkeit von 0,25 nm/v und eine kleine Spotgröße von 1 nm für maximierte Auflösung. CAMBRIDGE EBMF-6 SEM verfügt über einen Everhart-Thornley-Detektor zum Nachweis von Sekundärelektronen, der dann für die 3D-Bildgebung verwendet werden kann. Darüber hinaus liefert der dedizierte rückgestreute Elektronendetektor überlegene Bilder der Kristallstruktur der Probe. Diese hochmoderne Technologie ermöglicht es Forschern, die Struktur einer Probe ohne anyperturbing Mittel oder Hintergrundgeräusche zu isolieren. EBMF-6 umfasst auch ein digitales optisches System, das eine Vielzahl von Bildprozessen und Bildverbesserungen unterstützt. Dies verbessert die Genauigkeit und Geschwindigkeit des SEM, indem es bis zu 360 ° -Drehung der Probe ermöglicht, einen digitalen Zoom von 2x, der die Bildklarheit verdoppelt und eine schnelle Objektsuche innerhalb des Bildes ermöglicht. Das SEM enthält auch eine Joystick betriebene Fokus- und Z-Achsen-Stufe, die eine Probenmanipulation ermöglicht, ohne dass die Probe unter dem Rasterelektronenstrahl entfernt und neu positioniert werden muss. Diese Funktion beschleunigt den gesamten Datenerfassungsprozess, der ein wesentlicher Bestandteil von SEM-Studien ist. CAMBRIDGE EBMF-6 ist dank seiner leistungsstarken, aber benutzerfreundlichen Steuereinheit einfach zu bedienen. Die Software verfügt über eine intuitive grafische Benutzeroberfläche, die den gesamten Prozess vereinfacht und es Anwendern ermöglicht, schnell zu lernen, wie man das SEM steuert. Insgesamt ist EBMF-6 Rasterelektronenmikroskop ein zuverlässiges, leistungsstarkes und benutzerfreundliches SEM, das hervorragende Bildgebungsfunktionen bei geringer Punktgröße und hoher Empfindlichkeit bietet. Seine fortschrittlichen Funktionen und effiziente Steuerungsmaschine machen es zu einer großen Wahl für akademische und industrielle Forschung.