Gebraucht CAMBRIDGE S-90B #9079994 zu verkaufen

CAMBRIDGE S-90B ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM), das für eine hervorragende Bildgebungsleistung in Analyse-, Bildgebungs- und Fehleranalyseanwendungen entwickelt wurde. Dieses Mikroskop verfügt über eine beeindruckende Palette an fortschrittlichen Technologien und Funktionen, die es ermöglichen, beispiellose Sichtbarkeit von Proben bis zu 1 nm Skala zu bieten. Es verfügt über einen eingebauten SE (Sekundärelektronen) -Detektor und einen energiedispersiven Röntgen- (EDX) -Detektor, der ideal für die chemische und elementare Analyse ist. Durch die Nutzung der variablen Luftspalttechnologie (VAG) können S-90B hervorragende Bilder sowohl dünner als auch dicker Proben mit minimaler Probenverzerrung erzeugen. Seine hoch geregelte Elektronenoptik bietet eine breite Palette von Lichtintensitätseinstellungen für die Abbildung von Partikeln bis zu einigen nm Größe. Die SX1000EP elektrisch gepulste Ultrahochvakuum (UPV) -Elektronensäule ermöglicht die schnelle Gewinnung von Bildern und Elementarkarten ohne Abtastartefakte oder Verunreinigungen. Dies ermöglicht eine präzise Analyse einer Vielzahl von Materialien, von Metallen bis zu organischen Materialien, bei hoher Auflösung und Empfindlichkeit. CAMBRIDGE S-90B ist mit einer intuitiven Microsoft Windows-basierten Benutzeroberfläche ausgestattet, die eine einfache Beispielnavigation bietet. Die Funktion Auto-Scan ermöglicht das automatische Scannen von Beispielbildern mit verschiedenen Vergrößerungen. Automatisierte Bühnensteuerung und eine Reihe von Kamerafunktionen ermöglichen die Erfassung präziser Bilder bei minimaler Bedienereinbindung. Weitere Merkmale sind ein Semi flexible Scanner (SFS) zur Abbildung von gekrümmten Oberflächen über mehrere Winkel, Neigungswinkel-Scans für bildgebende Orientierungseffekte und Focus Raman Imaging (FR) zur Analyse von Proben im Nanometermaßstab. S-90B ist auch mit einem Dynamic Secondary Electron Image Enhancer (DSEE) ausgestattet, der fortschrittliche Algorithmen verwendet, um sekundäre Elektronenbilder aus hoch texturierten Proben zu verbessern. CAMBRIDGE S-90B bietet leistungsstarke Analysefunktionen und Hochleistungs-Imaging, um es zu einer idealen Wahl für Fehleranalysen und andere Anwendungen zu machen.