Gebraucht CIQTEK DB550 #293820900 zu verkaufen

ID: 293820900
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) Ion optical system Current: 1pA - 65nA Voltage: 500V - 30kV Electron-optical system Current: 1pA - 20nA Voltage: 320V - 30kV Vacuum system Sample chamber Sample stage Detector Image display.
CIQTEK DB550 ist ein modernes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das sich durch seine fortschrittlichen bildgebenden Funktionen, sein ergonomisches Design und seine intuitive Benutzeroberfläche auszeichnet. Dieses hochmoderne Instrument wurde entwickelt, um hochauflösende Bilder und eine detaillierte Analyse einer Vielzahl von Proben mit außergewöhnlicher Leistung und Effizienz zu liefern. Dieses SEM eignet sich hervorragend für Forschungslabore, akademische Einrichtungen und Industrieanlagen, die nanoskalige Strukturen und Oberflächeneigenschaften präzise und präzise untersuchen möchten. Herzstück von DB550 ist sein fortschrittliches Elektronenoptiksystem, das eine Elektronenquelle mit hoher Helligkeit, eine ausgeklügelte optische Elektronensäule und einen präzise fokussierten Elektronenstrahl umfasst. Die Elektronenquelle erzeugt einen hochkohärenten Elektronenstrahl mit ausgezeichneter Helligkeit und Stabilität, wodurch das Mikroskop eine hochauflösende Abbildung auf Nanometerskalen erreichen kann. Die optische Elektronensäule ist für eine überlegene Bildgebungsleistung mit minimaler Strahlspreizung und hohem Signal-Rausch-Verhältnis optimiert, um klare und detaillierte Bilder der Probe zu gewährleisten. CIQTEK DB550 verfügt über eine Reihe von Detektoren und bildgebenden Modi, um verschiedenen bildgebenden Anforderungen und Probentypen gerecht zu werden. Das Mikroskop ist mit einem großflächigen Sekundärelektronendetektor zur hochauflösenden Abbildung von Oberflächentopographie und Zusammensetzung sowie einem rückgestreuten Elektronendetektor zur Elementaranalyse und Materialkontrast-Bildgebung ausgestattet. Darüber hinaus bietet das SEM eine energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) zur quantitativen Elementaranalyse und Kartierung der chemischen Zusammensetzung in der Probe. Eine der Hauptstärken von DB550 ist das ergonomische Design und die benutzerfreundliche Oberfläche, die den Bildgebungs- und Analyseablauf für Forscher und Betreiber optimieren. Das Mikroskop ist mit motorisierten Bühnensteuerungen, automatisierter Bilderfassungssoftware und intuitiven Datenanalysetools ausgestattet, die es Anwendern ermöglichen, einfach zu navigieren und Proben zu erkunden. Die Benutzeroberfläche ist für den nahtlosen Betrieb konzipiert, so dass Benutzer Bildparameter anpassen, Bilder erfassen und Analysen mit minimalem Training und Fachwissen durchführen können. In puncto Performance zeichnet sich CIQTEK DB550 durch bildgebende Geschwindigkeit, Auflösung und Analysefunktionen aus. Das Mikroskop bietet schnelle Bildgebungs- und Scangeschwindigkeiten und ermöglicht eine effiziente Datenerfassung und Analyse großer Probenflächen mit hohem Durchsatz. Das SEM verfügt auch über eine außergewöhnliche Auflösung und Bildqualität, mit Sub-Nanometer-Auflösungsfunktionen für die Abbildung von feinen Oberflächendetails und nanostrukturierten Materialien. Darüber hinaus liefern die analytischen Fähigkeiten des Instruments, einschließlich EDS und Elementarkartierung, wertvolle Einblicke in die chemische Zusammensetzung und die Materialeigenschaften der Probe. Insgesamt ist DB550 ein leistungsstarkes und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das fortschrittliche Bildgebungstechnologie, ergonomisches Design und benutzerfreundliche Schnittstelle kombiniert, um herausragende Leistung und Ergebnisse für eine Vielzahl von Anwendungen zu liefern. Ob Sie nanoskalige Strukturen untersuchen, Materialeigenschaften charakterisieren oder Elementaranalysen durchführen, dieses SEM bietet Forschern und Betreibern eine umfassende Lösung zur präzisen Bildgebung und Analyse von Proben mit beispielloser Detailtreue und Genauigkeit.
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