Gebraucht EDAX 9100 #126390 zu verkaufen

EDAX 9100
ID: 126390
Semi-quant EDS system.
EDAX 9100 ist ein Rasterelektronenmikroskop aus der Optima-Serie von EDAX. Es ist eine Kombination aus digitalen Mikrostrahl-Analysatoren (DMA) und partikelinduzierter Röntgenemission (PIXE). Dieses Mikroskop ermöglicht die Analyse von Materialien mittels Elektronen- und Röntgenstrahldetektion. 9100 nimmt Bilder in sehr hoher Auflösung auf und bietet die Fähigkeit, die elementare Zusammensetzung der Probe zu messen. EDAX 9100 arbeitet nach den Grundsätzen von SEM und EDS. Die SEM-Komponente ermöglicht es einem Elektronenstrahl, mit der Probe zu interagieren und ein Bild seiner Oberfläche mit hoher Auflösung zu erzeugen. Dieses Bild ermöglicht es Forschern, seine physikalischen und chemischen Eigenschaften detailliert zu analysieren. Mit dem EDS-Anteil von 9100 wird der elektronische Energieverlust der emittierten Röntgenstrahlen aufgrund der Probenzusammensetzung gemessen. Diese Daten dienen dann zur genauen Messung der elementaren Zusammensetzung der Probe. EDAX 9100 ist ein leistungsstarkes Werkzeug für Forscher, die Mineralien, Materialien und organische Materialien in ihrer Forschung verwenden. Durch die Kombination von SEM und EDS können Forscher sowohl die Mikrostruktur als auch die elementare Zusammensetzung ihrer Probe schnell bewerten. Diese schnelle Auswertung ist manchmal unverzichtbar für Forschungen, die kurze Messzeiten erfordern. Sie eignet sich auch zur Dünnschichtanalyse, da Röntgenstrahlwechselwirkungen in den Oberflächenschichten der Probe auftreten. 9100 kann in mehreren Modi betrieben werden, einschließlich Point Mapping, Line Mapping und Area Mapping. Mit Point Mapping können Forscher die elementare Zusammensetzung eines einzelnen Bereichs oder Fleckens messen. Die Zeilenzuordnung zeichnet die Variation der Elementkomposition als Linienscan über die Oberfläche auf. Flächenmapping bietet die Möglichkeit, die elementare Zusammensetzung über einen größeren Bereich der Probe zu messen. Insgesamt ist EDAX 9100 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das es Forschern ermöglicht, die elementare Zusammensetzung ihrer Probe schnell zu bewerten. Durch die Kombination von SEM und EDS bietet es Forschern ein leistungsfähiges und flexibles Werkzeug zur schnellen Elementaranalyse. Darüber hinaus bietet die Fähigkeit, Messungen in den Modi Point, Line und Area Mapping durchzuführen, Forschern eine Fülle von Möglichkeiten für ihre Forschung.
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