Gebraucht ELIONIX ELS-7500EX #293594292 zu verkaufen

ELIONIX ELS-7500EX ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für industrielle bildgebende Anwendungen, einschließlich Fehleranalyse, Halbleiterinspektionen und Oberflächenmorphologieanalyse. Es bietet eine hochempfindliche Feldemissionsquelle (FE), eine Auflösung von bis zu 1,0 nm und eine große Stufe und Probenkammer zur Inspektion großer Proben. ELS-7500EX verfügt über eine 300kV FE-Quelle mit einer Reihe von Strahlströmen, die hochempfindliche Elektronendetektorsignale mit geringem Umgebungsrauschen liefert. Die FE-Quelle ist sehr stabil und beseitigt Probenartefakte, die durch mechanische Vibrationen wie Luftturbulenzen verursacht werden. ELIONIX ELS-7500EX verfügt außerdem über einen Niedrigstrom-SE-Modus (Sekundärelektron), der eine Abbildung bei sehr niedrigen Strahlströmen ermöglicht. Das Mikroskop verwendet eine kippbare/drehbare große Probenstufe und Probenkammer, die große Probengrößen und komplexe Probenwinkel ermöglicht. Die Vakuumausrüstung bietet einen Basisdruck von 1 x 10-4 Pa, der eine Vielzahl von Probenmaterialien unterstützt. Die Stufe und Probenkammer verfügen auch über schnelle Scan- und Probenvorbereitungsfunktionen, die eine schnelle Inspektion der Oberflächenmorphologie und die automatische Vorbereitung von 3D-Bildern ermöglichen. ELS-7500EX bietet auch ein hochauflösendes optisches System mit Auflösungen bis 1,0 nm. Die optische Einheit ist sowohl für die Hellfeld- als auch für die Dunkelfeldbildgebung konzipiert und mit verschiedenen Objektivzubehörteilen ausgestattet, die variable Vergrößerungen ermöglichen. ELIONIX ELS-7500EX ist ideal für industrielle bildgebende Anwendungen und bietet eine hochgenaue und stabile bildgebende Plattform. Seine einzigartige Kombination von Eigenschaften, einschließlich einer hochempfindlichen FE-Quelle, einer kipp-/drehbaren Probenkammer und einer hochauflösenden optischen Maschine, macht es zu einer ausgezeichneten Wahl für die Abbildung komplexer Proben.