Gebraucht FEI 835i #293807172 zu verkaufen

FEI 835i
Hersteller
FEI
Modell
835i
ID: 293807172
System.
FEI 835i ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das Spitzentechnologie auf dem Gebiet der Materialwissenschaft und Nanotechnologie darstellt. Dieses leistungsstarke Instrument soll Forschern und Ingenieuren leistungsstarke Bildgebungs- und Analysefunktionen auf nanoskaliger Ebene bieten. 835i bietet eine breite Palette von Funktionen und Funktionen, die es Anwendern ermöglichen, Struktur, Zusammensetzung und Eigenschaften einer Vielzahl von Materialien mit beispiellosem Detail und Präzision zu untersuchen. Zu den Schlüsselkomponenten von FEI 835i SEM gehören eine Elektronenquelle, Elektronenoptik, Abtastspulen, Detektoren und Steuerungssoftware. Das Instrument verwendet eine thermionische Elektronenkanone, um einen fokussierten Elektronenstrahl zu erzeugen, der auf die zu untersuchende Probe gerichtet ist. Das Elektronenoptiksystem besteht aus elektromagnetischen Linsen, die den Elektronenstrahl manipulieren, um eine hochauflösende Abbildung zu erreichen. Die Abtastspulen sind für die kontrollierte Abtastung des Elektronenstrahls über die Probenoberfläche verantwortlich, wodurch qualitativ hochwertige Bilder und Karten erfasst werden können. 835i ist mit verschiedenen Detektoren ausgestattet, die verschiedene Signale erfassen, die von der Probe bei Wechselwirkung mit dem Elektronenstrahl emittiert werden. Diese Detektoren umfassen Sekundärelektronen (SE) -Detektor, rückgestreuten Elektronen (BSE) -Detektor, energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) -Detektor und Kathodolumineszenz (CL) -Detektor. Der SE-Detektor dient zur Abbildung der Topographie und Oberflächenmorphologie der Probe, während der BSE-Detektor Informationen über die Atomzusammensetzung und den Materialkontrast liefert. Der EDS-Detektor ermöglicht eine quantitative Elementaranalyse durch Detektion von charakteristischen Röntgenstrahlen, die von der Probe emittiert werden, und der CL-Detektor wird zur Untersuchung der optischen Eigenschaften von Materialien verwendet. Eines der herausragenden Merkmale von FEI 835i SEM ist die hochauflösende Bildgebung. Das Instrument ist in der Lage, Subnanometer-Auflösung zu erreichen, so dass Benutzer Nanostrukturen, Nanopartikel und Oberflächenmerkmale mit außergewöhnlicher Klarheit visualisieren können. 835i bietet auch eine große Auswahl an Vergrößerungsoptionen, von niedriger bis ultra-hoher Vergrößerung, so dass es für eine breite Palette von Anwendungen in der Materialwissenschaft, Life Sciences, Geowissenschaften und mehr geeignet ist. Neben der Bildgebung bietet FEI 835i SEM erweiterte analytische Funktionen, mit denen Anwender wertvolle Informationen über die chemische Zusammensetzung und die strukturellen Eigenschaften von Materialien extrahieren können. Das in das Instrument integrierte EDS-System ermöglicht die elementare Kartierung und quantitative Analyse von Proben und gibt Einblicke in die Verteilung von Elementen innerhalb der Probe. 835i ist auch mit fortschrittlichen Techniken wie Elektronen-Backscatter-Beugung (EBSD) für kristallographische Analyse und 3D-Rekonstruktionssoftware für tomographische Bildgebung kompatibel. Darüber hinaus ist FEI 835i mit einer intuitiven Steuerungssoftware ausgestattet, die die Bedienung des Instruments optimiert und die Datenerfassung und -analyse erleichtert. Die Softwareschnittstelle bietet eine benutzerfreundliche Umgebung zum Einrichten von Bildparametern, zum Durchführen von Experimenten und zum Verarbeiten von Bilddaten. 835i unterstützt auch eine Reihe von Automatisierungsfunktionen, einschließlich Bühnennavigation, Bildnähte und Bildverarbeitungsalgorithmen, die die Produktivität und Effizienz im Labor verbessern. Insgesamt ist das Rasterelektronenmikroskop FEI 835i ein hochmodernes Instrument, das fortschrittliche bildgebende Fähigkeiten mit leistungsstarken analytischen Funktionalitäten kombiniert, um den wachsenden Anforderungen moderner Forschung und Entwicklung gerecht zu werden. Mit hochauflösender Bildgebung, vielseitigen Detektoren, fortschrittlichen Analysewerkzeugen und benutzerfreundlicher Oberfläche ist 835i ein wertvolles Werkzeug für das Studium von nanoskaligen Materialien und die Weiterentwicklung wissenschaftlicher Kenntnisse in verschiedenen Bereichen.
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