Gebraucht FEI Altura 835 #293754406 zu verkaufen

FEI Altura 835 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für hochauflösende Bildgebungs- und Analysefunktionen. Es handelt sich um ein SEM auf mittlerer Ebene mit erweiterten Bildgebungsfunktionen, einschließlich 3-Achsen-Scan und digitaler Bildbeschneidungsfunktion mit einer einfach zu bedienenden grafischen Oberfläche. Das SEM unterstützt intern eine breite Palette von Sekundärelektronen (SE) Detektoren für Morphologie und Zusammensetzungsanalyse, einschließlich eines Festkörper-Rückstreudetektors (SBD), ein Energy Dispersive Röntgen- (EDX) -Spektrometer zur Elementanalyse, ein flüssiges stickstoffgekühltes ultra-verlustarmes Elektronenenergiefilter (EELF) für die chemische Zustandsbildgebung und -analyse sowie eine breite Palette von Detektoren zur Kombination von Sekundär-, Rückstreu- und Röntgenbildgebung. Altura 835 beinhaltet eine fortschrittliche Signal-zu-Rausch-Optimierung, die es ermöglicht, mehr bildgebende Details zu erfassen, einschließlich eines On-Stage-Signalverstärkers mit einem speziellen rauscharmen Design und einer Vielzahl von Filter- und Signalverbesserungstechnologien, um das Signal-zu-Rausch-Verhältnis zu optimieren. Das SEM ist außerdem mit einer hochauflösenden Monochromkamera und einer Vielzahl von X-, Y-, Z-Positionier- und Nähsoftware ausgestattet, um die Bildaufnahme zu automatisieren und zu rationalisieren. Zu den analytischen Fähigkeiten von FEI Altura 835 gehört eine automatische Probenoberflächenrauschanalyse, die Oberfläche, Volumen und Partikelgrößenverteilungen erzeugt. Darüber hinaus unterstützt es auch automatisierte Mustererkennung sowie Oberflächenstrukturmessungen wie Atomkraftmikroskopie (AFM). Die Kompositionsanalyse mit dem EDX-Detektor kann verwendet werden, um nanoskalige Elementverteilungen zu charakterisieren, mit Mehrkanal-Setup zur gleichzeitigen Messung mehrerer Elemente und spektraler Bildgebung zur Abbildung von regional aufgelösten Elementverteilungen. Um die Benutzerfreundlichkeit und Leistungsfähigkeit zu maximieren, verfügt Altura 835 über ein automatisiertes Betriebssystem, das die Vorbereitung und Analyse von Proben vereinfacht. Dieses automatisierte System bietet eine intuitive Benutzeroberfläche für den Messvorgang, in der Benutzer das Mikroskop in Echtzeit visualisieren, steuern und überwachen können. Darüber hinaus verfügt das System über umfassende Software-Tools und fortschrittliche Algorithmen, die leistungsstarke Funktionen für Datenverwaltung, Bildgebung, Datenvisualisierung und Analyse bieten. Letztlich ist FEI Altura 835 eine vielseitige SEM-Plattform mit fortschrittlichen Bildgebungs- und Analysefähigkeiten, die es Forschern ermöglichen, Materialien und Nanostrukturen mit hoher Genauigkeit zu erforschen und zu charakterisieren.