Gebraucht FEI Altura 835 #293761494 zu verkaufen

FEI Altura 835 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur Bildgebung und Analyse von Materialien. Es bietet hochauflösende Bilder, Partikelgröße und Qualitätskontrolle einer breiten Palette von Materialien. Altura 835 wurde entwickelt, um die strengsten Anforderungen an Bildgebung und Forschung zu erfüllen. Es enthält eine Hochleistungselektronenoptik und verfügt über ein einzigartiges Elektronensäulendesign, um Aberrationen zu reduzieren, die die Bildqualität beeinflussen können. Das System verfügt über mehr als 950 Objektive, um die Bildstabilität zu verbessern und die Auflösung zu erhöhen. FEI Altura 835 bietet extreme Flexibilität bei der Probenmanipulation. Es verfügt über manuelle und intuitive motorisierte Probenstufen, um die größeren Proben zu handhaben, die von einer präziseren Neigungsrotation profitieren können. Die Präzisionssteuerung und Automatisierung kann entweder über einen PC oder eine eigene Konsole gesteuert werden, was eine optimale Produktivität und Kreativität in der Bildgebung und Analyse ermöglicht. Altura 835 ist mit einer Vielzahl von Detektoren für die Bildgebung und Inspektion ausgestattet. Sie umfasst einen Live-Sekundärelektronendetektor (SE), einen rückgestreuten Elektronendetektor (BSE) und einen energiefilterten Transmissionselektronendetektor (EFTEM). Jeder Detektor gibt eine komplementäre Ansicht der Probe mit unterschiedlichem Kontrast oder Auflösung. Das Gerät ist voll konfigurierbar, mit vielen Optionen für Anwendungen wie hochauflösende Bildgebung und Bildgebung von biologischen Proben. Es hat auch hochauflösende Bildgebung, Partikelgröße, digitale Bildgebung und Analyse, energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) und vieles mehr. Darüber hinaus bietet FEI Altura 835 fortschrittliche Support-Tools wie automatisierte Bildnähte, Autofokus, eine intuitive benutzerfreundliche Oberfläche und eine Reihe von Datenerfassungs- und Analyseanwendungen. Insgesamt ist Altura 835 ein leistungsstarkes fortgeschrittenes Rasterelektronenmikroskop, das höchsten Forschungsanforderungen gerecht wird und Bildgebern eine unübertroffene Palette von Fähigkeiten bietet, um die Produktivität und Genauigkeit der Bildgebung zu verbessern.