Gebraucht FEI Altura 835 #9286978 zu verkaufen

ID: 9286978
Wafergröße: 8"
Weinlese: 2004
Focused Ion Beam (FIB) system, 8" 2004 vintage.
FEI Altura 835 ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das fortschrittliche Technologie für ultimative Leistung bei der Abbildung und Analyse von Probenoberflächen kombiniert. Es verfügt über eine Hochleistungs-SEM-Säule und eine schnelle Scanstufe, die eine präzise Probenpositionierung, eine schnelle Scangeschwindigkeit und eine hochauflösende Bildgebung bietet. Die Ausrüstung bietet eine breite Palette von analytischen Fähigkeiten, einschließlich Energie-dispersive Röntgen- (EDX) Detektoren, die Elemente in organischen und anorganischen Proben analysieren können, und bietet eine Fülle von Informationen über Materialstruktur, Zusammensetzung und Oberflächenmorphologie. Altura 835 verfügt auch über eine hochauflösende Elektronensäule mit einem 5-Achsen-Ablenksystem. Die drei 2-Achsen-Scan-Deflektoren dieses Geräts bieten eine sehr schnelle Scangeschwindigkeit unter Beibehaltung eines ausgezeichneten Fokus von Quelle zu Probe und einer hervorragenden Bildqualität. Die hohe Beschleunigungsspannung von FEI Altura 835 macht es für die Durchführung von mehreren bildgebenden Techniken wie Rückstreuelektronenbildgebung geeignet. Die Neigungsstufen der Maschine ermöglichen es Benutzern, Bilder in mehreren Neigungswinkeln zu erfassen, um die Oberflächentopologie eines Objekts zu bewerten. Das Mikroskop bietet auch einen Niederspannungs-Abbildungsmodus, der die Beobachtung sehr fragiler Proben ohne Angst vor Beschädigung oder Veränderung ermöglicht. Das hochauflösende EDX-Tool von Altura 835 bietet eine schnelle elementare Abbildung von Proben. Dies macht es hervorragend für die Analyse der Chemie von organischen und anorganischen Materialien. Das EDX-Asset besteht aus einem Detektor, einer EDX-Workstation und dazugehöriger Software, die eine schnelle und einfache Elementzuordnung ermöglicht. Der Detektor weist eine Auflösung von 144 Spektralkanälen zur unvoreingenommenen Quantifizierung der Materialzusammensetzung auf. FEI Altura 835 bietet eine breite Palette von Funktionen für die Analyse einer Vielzahl von Proben. Es kommt mit einer großen Probenkammer und Arbeitsraum, so dass Benutzer die Entwicklung von dreidimensionalen Proben mit dem hel eines Bühnenmotors zu überwachen. Es enthält auch Funktionen wie magnetische Probenhandhabung, digitale Encoder und automatisches Tracking für die einfache Navigation und Positionierung mehrerer Proben. Altura 835 ist ein ultimatives Werkzeug für diejenigen, die nach fortschrittlichen bildgebenden und analytischen Fähigkeiten in einem Rasterelektronenmikroskop suchen. Sein modernes Design und seine Technologie machen es zu einem idealen Werkzeug, um hochauflösende Bilder zu erhalten und Materialstrukturen und Zusammensetzungen zu analysieren. Die benutzerfreundliche Benutzeroberfläche des Modells macht es Anwendern unkompliziert, das Mikroskop einzurichten und zu verwenden, und bietet Anwendern erstklassige Leistung bei der Untersuchung von Probenoberflächen.
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