Gebraucht FEI CLM-3D #293670547 zu verkaufen

FEI CLM-3D ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur Charakterisierung der Oberflächentopographie und mikrostruktureller Merkmale hochauflösender Proben in nanoskaliger Auflösung. Das Mikroskop verfügt über ein großes Sichtfeld und einen erweiterten Arbeitsabstand, so dass es sich ideal für die Erfassung detaillierter Funktionen sowie großflächiger Übersichten eignet. CLM-3D verfügt über eine echte Farbkammer, die eine hochpräzise Abbildung von nanoskaligen Strukturen ermöglicht. Dies ist besonders vorteilhaft bei der Abbildung von Proben, die eine optische oder chemische Analyse von Strukturelementen erfordern. Die wahre Farbkammer ermöglicht es dem Anwender auch, dreidimensionale (3D) Bilder zu erhalten, die interaktiv betrachtet und auch als digitale Dateien gespeichert werden können. FEI CLM-3D verwendet hochauflösende Optik, um eine genaue Abbildung von Probenoberflächen zu gewährleisten. Die Objektivlinse hat eine große Arbeitsdistanz, so dass größere Tiefen des Feldes bei gleichzeitiger zufriedenstellender Bildauflösung. Darüber hinaus verfügt das Objektiv auch über einen Sammelwinkel von bis zu 30 Grad, wodurch eine gekippte Bilddarstellung und die Bestimmung von 3D-Formen von nanoskaligen Merkmalen ermöglicht wird. CLM-3D verfügt auch über eine schnellere Erfassungsgeschwindigkeit, mit der Möglichkeit, Tausende von Bildern pro Sekunde zu erfassen. Dies ermöglicht eine schnelle Analyse von Proben, was die Produktivität erheblich erhöht. FEI CLM-3D umfasst multifunktionale Software, die automatisierte Bildgebung, Analyse und Veröffentlichung von Informationen erleichtert. Die Software ist mit mehreren Funktionen ausgestattet, darunter automatisiertes Nähen, mehrstufiges Schneiden und Analyse der Intensität der Spitze/Mulde. Der modulare Aufbau von CLM-3D bietet je nach Anwendungsfall eine Reihe von Konfigurationen zur Auswahl. Dieser modulare Aufbau hilft bei der Reduzierung von Ausfallzeiten, elektrischen Störungen und der Optimierung der Leistung. Insgesamt ist FEI CLM-3D ein hochpräzises Rasterelektronenmikroskop, das hervorragende bildgebende Eigenschaften für nanoskalige Merkmale bietet. Es eignet sich für eine Vielzahl von Anwendungen wie materialwissenschaftliche Forschung, Nanomaterialien Charakterisierung und Halbleiteranalyse.