Gebraucht FEI FIB 200 #9082663 zu verkaufen

FEI FIB 200 ist ein fortschrittliches, hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Anwendungen wie Materialanalyse und Materialcharakterisierung. Es verwendet einen fokussierten Ionenstrahl (FIB), um hoch vergrößerte, detaillierte Bilder der inneren Struktur von Materialien sowie die Fähigkeit, Proben mit atomarer Präzision zu nehmen, zu ermöglichen. Mit seinem fortschrittlichen Elektronik- und Optiksystem bietet FIB 200 eine höhere Auflösung und schnelleres Scannen als die meisten SEMs. FEI FIB 200 verwendet eine Feldemissionsquelle, um Elektronen mit extrem hohen Strömen bereitzustellen. Diese Elektronen werden durch eine Reihe von elektromagnetischen Linsen fokussiert und dann durch eine Anode zur Probe beschleunigt. Wenn die Elektronen mit dem Probenmaterial interagieren, erzeugen sie deutliche Signale, die dann vom SEM-System detektiert und zu Bildern verarbeitet werden. FIB 200 verfügt über einen sphärischen Aberrationskorrektor, der es ermöglicht, Bilder kleiner Funktionen höherer Auflösung zu erzielen. Der in dieses System eingebaute fokussierte Ionenstrahl ist ein kritischer Aspekt der Probenvorbereitung. Die FIB ermöglicht es Benutzern, eine Fläche von Probenmaterial zu nehmen und es zur weiteren Analyse in dünne Schichten zu schneiden. Dieser Schneidprozess ist unglaublich präzise, so dass Proben mit atomarer Präzision hergestellt werden können. Es ermöglicht auch die Entfernung von Oberflächenatomen und die Ablagerung von Sonden und Substraten in die Probe. FEI FIB 200 bietet auch eine Reihe von Bildanalyse- und Messwerkzeugen, mit denen Benutzer die Materialien genauer analysieren können. Dazu gehören Werkzeuge wie mehrdimensionale Farbzuordnung und automatische Formelementvorlagen. Daten können zur weiteren Analyse exportiert oder als zukünftige Referenz gespeichert werden. Insgesamt ist FIB 200 ein fortschrittliches SEM, das mit Werkzeugen ausgestattet ist, um wertvolle Informationen über nanoskalige Materialien bereitzustellen. Seine unübertroffene Präzision und Auflösung, gepaart mit seiner integrierten FIB, machen es zu einem idealen Instrument für die Materialanalyse und Charakterisierung.