Gebraucht FEI FIB 200 #9178157 zu verkaufen

FEI FIB 200 ist ein hochauflösendes, innovatives Stück Rasterelektronenmikroskop (SEM) -Technologie von FEI. Dieses fortschrittliche Rasterelektronenmikroskop vereinfacht die Beobachtung von Materialien und Objekten im Nanobereich. Es verwendet eine Kombination aus fokussiertem Ionenstrahl (FIB) und Rasterelektronenmikroskopie und bietet leistungsstarke bildgebende Funktionen und Probenvorbereitungsoptionen. FLUNKEREI 200 vereinigt ein energiereiches FLUNKEREIEN-System und eine Hochvakuumfeldemission, Elektronmikroskop in ein einzelnes Instrument scannend. Das leistungsstarke FIB-System ermöglicht größere Analysefunktionen, bietet niedrige parasitäre Strahlströme und Vierstrahlbetrieb. Dies ermöglicht eine präzise Analyse kleiner Merkmale und Signaturen auf einer Vielzahl von Oberflächen und bietet einen hervorragenden Bildkontrast und eine hervorragende Auflösung. Das Feldemissionsrasterelektronenmikroskop von FEI FIB 200 ist hocheffizient und liefert hervorragende Bilder von jeder Probenoberfläche oder -material, auch bei niedrigeren Beschleunigungsspannungen. Es unterstützt die Bildgebung sowohl im elementaren als auch im kristallographischen Modus und umfasst eine automatisierte SEM-Ausrichtung, sodass Benutzer die Probe unabhängig fokussieren und neigen können. Weitere Merkmale von FIB 200 sind ein interaktives Bedienfeld, ein großes Sichtfeld und ein automatisiertes Softwaresystem für die Beispielnavigation. Die einfach zu bedienende Schnittstelle und automatisierte Bedienfelder ermöglichen eine schnelle Navigation zum gewünschten Bereich in der Probe, so dass die Analyse schneller und mit geringerem Aufwand durchgeführt werden kann. Für die Probenvorbereitung bietet FEI FIB 200 eine Vielzahl von Schneidoptionen und die Möglichkeit, Proben zu kippen und zu modifizieren. Je nach Bedarf des Anwenders können Proben mit hoher Präzision geschnitten, gefräst, verschlankt oder poliert werden. Die leistungsstarke Kombination aus FIB und fortgeschrittenem SEM von FIB 200 macht es zu einer guten Wahl für die Analyse und Bewertung von Materialien und Objekten im Nanometermaßstab. Diese vielseitige und zuverlässige Maschine ist in der Lage, hohe Präzision und Produktionsanforderungen zu erfüllen und macht es einfach, auch die empfindlichsten Merkmale auf einer Reihe von Oberflächen und Materialien zu beobachten.